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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2006-0010461 (2006-02-03) |
공개번호 | 10-2007-0079655 (2007-08-08) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020060010461 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사진행상태 | 취하(심사미청구) |
법적상태 | 취하 |
본 발명은 메모리 모듈의 직렬구성 인식소자(SPD; Serial Presence Detect) 테스터와 테스트 방법에 관한 것이다. 컴퓨터와의 호환을 위한 인터페이스 카드가 필요한 종래의 직렬구성 인식소자 테스터는 다른 컴퓨터를 사용할 때마다 컴퓨터에 인터페이스 카드를 설치해야되는 번거로움이 있다. 이와 같은 문제점을 해결하기 위하여 본 발명은 테스터 몸체가 컴퓨터의 병렬 포트에 의해 컴퓨터와 연결되는 직렬구성 인식소자 테스터와 테스트 방법을 제공한다. 본 발명에 따르면 테스터 몸체와 컴퓨터가 연결되면 컴퓨터에 의하여 직렬구성 인식
직렬구성 인식소자(SERIAL PRESENCE DETECT; SPD)를 포함하는 메모리 모듈이 장착되고, 상기 직렬구성 인식소자의 핀과 접속되는 소켓;상기 소켓이 설치되고, 상기 소켓에 장착된 상기 메모리 모듈의 직렬구성 인식소자의 핀과 연결되는 테스터 몸체;상기 테스터 몸체에 연결되어, 상기 직렬구성 인식소자의 핀과 연결되는 케이블;상기 케이블 일단에 연결되어, 상기 직렬구성 인식소자의 핀과 연결되는 복수 개의 병렬 포트 핀;상기 케이블 일단에서 상기 병렬 포트 핀을 감싸도록 형성된 병렬 포트 연결부; 및상기 병렬 포트 핀이 연결
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