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반도체 소자의 듀얼 폴리 게이트 형성방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/공개특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-021/336
출원번호 10-2007-0027205 (2007-03-20)
공개번호 10-2008-0085533 (2008-09-24)
DOI http://doi.org/10.8080/1020070027205
발명자 / 주소
  • 김재수 / 경기 이천시 고담동 고담기숙사 ***동 ***호
  • 박철환 / 서울 강북구 미아*동 ***-*
  • 조호진 / 경기 성남시 분당구 이매동 *** 풍림아파트 ***-***
  • 조규동 / 서울 노원구 중계동 *** **/* 성원아파트 ***- ***
출원인 / 주소
  • 주식회사 하이닉스반도체 / 경기 이천시 부발읍 아미리 산***-*
대리인 / 주소
  • 강성배 (Sung-Bae KANG)
  • 서울 강남구 역삼동 ***-** 원빌딩 **층 ****호
심사진행상태 취하(심사미청구)
법적상태 취하

초록

반도체 소자의 듀얼 폴리 게이트 형성방법은, NMOS 영역 및 PMOS 영역을 갖는 반도체 기판 상에 게이트절연막을 형성하는 단계; 상기 게이트절연막 상에 비도핑된 제1폴리실리콘막을 형성하는 단계; 상기 비도핑된 제1폴리실리콘막 내에 N형 불순물을 이온주입하는 단계; 상기 N형 불순물이 이온주입된 PMOS 영역 상의 제1폴리실리콘막 부분 내에 선택적으로 P형 불순물을 이온주입하는 단계; 상기 N형 및 P형 불순물이 이온주입된 제1폴리실리콘막 상에 금속계막을 형성하는 단계; 상기 금속계막 상에 비도핑된 제2폴리실리콘막을 형성하는 단계

대표청구항

NMOS 영역 및 PMOS 영역을 갖는 반도체 기판; 상기 반도체 기판 상에 형성된 게이트절연막; 상기 게이트절연막 상에 형성되며, NMOS 영역에 N형 불순물이 이온주입되고 PMOS 영역에 P형 불순물이 이온주입된 제1폴리실리콘막; 상기 N형 및 P형 불순물이 이온주입된 제1폴리실리콘막 상에 형성된 금속계막; 상기 금속계막 상에 형성된 비도핑된 제2폴리실리콘막; 및 상기 비도핑된 제2폴리실리콘막 상에 형성된 하드마스크막; 를 포함하는 것을 특징으로 반도체 소자의 듀얼 폴리 게이트.

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