초록 ▼

본 발명은 와전류 검사 시스템 및 방법에 관한 것으로, 특히 와전류를 이용하여 시험체의 열처리, 재질 및 결함의 유무 등을 검사할 수 있는 와전류 검사 시스템 및 방법에 관한 것이다.이를 위해, 본 발명은 마스터 시험체로부터 기준신호를 검출하는 기준센서와, 상기 마스터 시험체로부터 조정신호를 검출하고, 일군의 군집 내의 양품 시험체들로부터 군집신호를 검출하며, 대상 시험체로부터 대상신호를 검출하는 시험센서와, 상기 기준센서와 상기 시험센서를 포함하는 브릿지 회로를 구성하고, 상기 기준신호와 상기 조정신호에 따라 상기 브릿지 회로의

본 발명은 와전류 검사 시스템 및 방법에 관한 것으로, 특히 와전류를 이용하여 시험체의 열처리, 재질 및 결함의 유무 등을 검사할 수 있는 와전류 검사 시스템 및 방법에 관한 것이다.이를 위해, 본 발명은 마스터 시험체로부터 기준신호를 검출하는 기준센서와, 상기 마스터 시험체로부터 조정신호를 검출하고, 일군의 군집 내의 양품 시험체들로부터 군집신호를 검출하며, 대상 시험체로부터 대상신호를 검출하는 시험센서와, 상기 기준센서와 상기 시험센서를 포함하는 브릿지 회로를 구성하고, 상기 기준신호와 상기 조정신호에 따라 상기 브릿지 회로의 임피던스 평형을 조정하고, 상기 조정신호, 상기 군집신호 또는 상기 대상신호에 응답하여 변화하는 상기 브릿지 회로의 임피던스 평형상태의 변동에 대응하는 차동신호를 출력하는 와전류 검사장치를 포함하고, 상기 와전류 검사장치는 상기 군집신호에 대응하여 변화하는 상기 차동신호를 이용하여 양품판별영역을 설정하고, 상기 대상신호에 대응하여 변화하는 상기 차동신호를 이용하여 상기 차동신호의 최고점이 상기 양품판별영역에 포함되는지를 판단하여 상기 대상 시험체를 검사하는 와전류 검사 시스템을 제공한다. 따라서, 본 발명에 의하면, 검사항목을 모두 통과한 양품 시험체들로부터 검출된 군집신호를 이용하여 양품판별영역을 설정하고, 설정된 양품판별영역을 기준으로 대상 시험체의 합격 또는 불합격 여부를 판단함으로써 시험체의 열처리 유무 검사, 재질 검사, 가공형상 불량 검사시 신뢰성을 개선시켜 수율을 향상시킬 수 있다.

대표청구항 ▼

마스터 시험체로부터 기준신호를 검출하는 기준센서;대상 시험체로부터 대상신호를 검출하는 시험센서; 및상기 기준센서와 상기 시험센서를 포함하는 브릿지 회로를 구성하고, 상기 기준신호와 상기 대상신호에 대응하여 변화하는 상기 브릿지 회로의 임피던스 평형 상태를 검출하여 상기 대상 시험체의 결함을 검사하는 와전류 검사장치를 포함하고, 상기 기준센서 및 상기 시험센서 각각은 시험체가 내부를 관통하도록 관(管) 구조를 가지며, 상기 시험체가 내부로 인입된 후 인출될 때까지 전체 구조를 스캔하는 방식으로 신호를 검출하되, 내부로 인입되는 상기

마스터 시험체로부터 기준신호를 검출하는 기준센서;대상 시험체로부터 대상신호를 검출하는 시험센서; 및상기 기준센서와 상기 시험센서를 포함하는 브릿지 회로를 구성하고, 상기 기준신호와 상기 대상신호에 대응하여 변화하는 상기 브릿지 회로의 임피던스 평형 상태를 검출하여 상기 대상 시험체의 결함을 검사하는 와전류 검사장치를 포함하고, 상기 기준센서 및 상기 시험센서 각각은 시험체가 내부를 관통하도록 관(管) 구조를 가지며, 상기 시험체가 내부로 인입된 후 인출될 때까지 전체 구조를 스캔하는 방식으로 신호를 검출하되, 내부로 인입되는 상기 시험체의 길이와 폭보다 큰 길이와 폭을 갖는,와전류 검사 시스템.