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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2013-0000412 (2013-01-02) | |
등록번호 | 10-1315505-0000 (2013-09-30) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020130000412 | |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2013-01-02) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 FPGA와 ADATE207을 이용하여 TG를 구현한 반도체 테스트 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 테스트 제어장치에 의해 반도체 디바이스(DUT)를 테스트하는 테스트 헤더, 및 상기 반도체 디바이스와 상기 테스트 헤더 사이의 전기적인 연결을 확립하는 하이픽스(HIFIX) 보드를 포함하여 이루어지는 반도체 테스트 장치에 있어서, 상기 테스트 헤더는, 특정 주파수 대역의 신호를 생성하여 출력하는 오실레이터(Oscillator); 상기 오실레이터로부터 입력받은 특정 주파수 대역의 신호를 110㎒의 주파수로 변환 처리하
테스트 제어장치(10)에 의해 반도체 디바이스(30)(DUT)를 테스트하는 테스트 헤더(20), 및 상기 반도체 디바이스(30)와 상기 테스트 헤더(20) 사이의 전기적인 연결을 확립하는 하이픽스(HIFIX) 보드를 포함하여 이루어지는 FPGA와 ADATE207을 이용하여 TG를 구현한 반도체 테스트 장치에 있어서, 상기 테스트 헤더(20)는,주파수 신호를 생성하여 출력하는 오실레이터(110)(Oscillator);상기 오실레이터(110)로부터 입력받은 주파수 신호를 110㎒의 주파수로 변환 처리하여 출력하는 PLL(120)(Pha
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