최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
---|---|---|
국제특허분류(IPC8판) |
|
|
출원번호 | 10-2017-0025565 (2017-02-27) | |
등록번호 | 10-1887118-0000 (2018-08-03) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020170025565 | |
발명자 / 주소 |
|
|
출원인 / 주소 |
|
|
대리인 / 주소 |
|
|
심사청구여부 | 있음 (2017-02-27) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 기술의 일 실시예에 의한 프로브 카드 테스트 시스템은 복수의 니들이 구비된 프로브 카드, 복수의 니들에 일대일로 접촉되는 패드를 구비하는 컨택터 및 프로브 카드로 테스트 신호를 제공하고, 프로브 카드로부터 컨택터를 통해 출력되는 측정 신호를 수신하며, 기 추출된 보상값에 기초하여 측정 신호를 보정하여 보정된 측정 신호로부터 프로브 카드의 전기적 특성을 검사하는 테스트 바디를 포함하도록 구성될 수 있다.
복수의 니들이 구비되고, 하나의 입력 단자가 복수의 출력 단자로 분기되어 대응하는 니들로 연장되고, 상기 복수의 출력 단자 각각과 대응하는 니들 간에는 스위치 제어 신호에 응답하여 온 또는 오프되는 스위치가 구비되는 쉐어드 구조를 갖는 프로브 카드;상기 복수의 니들에 일대일로 접촉되는 패드를 구비하는 컨택터; 및상기 스위치의 적어도 하나를 온 또는 오프시키기 위한 상기 스위치 제어 신호를 생성하고, 상기 프로브 카드로 테스트 신호를 제공하고, 상기 프로브 카드에 구비된 상기 복수의 니들로부터 각각 출력되는 측정 신호 각각을 상기 컨
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.