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| 국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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| 국제특허분류(IPC8판) |
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| 출원번호 | 10-2014-0029819 (2014-03-13) | |
| 공개번호 | 10-2015-0107233 (2015-09-23) | |
| DOI | http://doi.org/10.8080/1020140029819 | |
| 발명자 / 주소 |
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| 출원인 / 주소 |
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| 대리인 / 주소 |
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| 심사진행상태 | 거절결정(일반) | |
| 법적상태 | 거절 |
본 발명은 특허지표 또는 논문지표를 이용하여 기술수준을 평가하는 방법으로서, 특허 또는 논문 등의 서지정보에 포함된 인자들과 평가지표들의 상관분석을 통해 공통된 인자가 적용되어 동일한 의미를 갖는 평가지표들이 제외되도록 기술수준 평가 모델을 설정하고 이를 통해 기술수준을 평가함으로써 보다 정확성과 신뢰도를 높인 기술수준의 평가가 가능해진다.
특허 서지정보를 이용하여 특허 기술수준을 평가하는 방법에 있어서,분석대상 특허들의 서지정보를 준비하는 분석 데이터 준비 단계;상기 서지정보의 특허출원수를 기초로 특허출원활동을 측정하는 특허활동지수(PAI), 상기 서지정보의 특허패밀리수를 기초로 시장확보정도를 측정하는 특허시장력지수(PMI) 및 상기 서지정보의 피인용특허수를 기초로 특허 응용 정도를 측정하는 특허영향력지수(PCI)를 산출하는 평가지표 산출 단계; 및상기 특허활동지수(PAI), 특허시장력지수(PMI) 및 특허영향력지수(PCI)를 이용하여 특허 기술수준을 평가하되, 하기
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