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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2014-7018961 (2014-07-08) | |
공개번호 | 10-2014-0105549 (2014-09-01) | |
등록번호 | 10-1828985-0000 (2018-02-07) | |
국제출원번호 | PCT/EP2011/073625 (2011-12-21) | |
국제공개번호 | WO 2013/091692 (2013-06-27) | |
번역문제출일자 | 2014-07-08 | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020147018961 | |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2016-11-09) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
방 안의 조사표면의 온도를 모니터링하기 위한 방법이 개시된다. 상기 방법은: 상기 조사표면에 결합된 N개의 온도 센서들을 제공함; 상기 개수의 온도 센서들로부터 각각의 온도값들을 수신함; 상기 수신된 온도값들에 외삽 모델을 적용하고 상기 조사표면의 외삽된 열화상 스캔을 외삽함; 및 상기 외삽된 열화상 스캔에 기초하여 상기 조사표면의 온도를 모니터링함을 포함한다.
방(R) 안의 조사표면(SV)의 온도를 모니터링하기 위한 방법으로서, 상기 방법은:a) 상기 조사표면(SV)에 결합된 N개의 온도 센서들(S(i))을 제공함;b) 상기 개수의 온도 센서들(S(i))로부터 각각의 온도값들(Ts(i,k*))을 수신함;c) 상기 수신된 온도값들(Ts(i,k*))에 외삽 모델을 적용함으로써 상기 조사표면(SV)의 외삽된 열화상 스캔(Sc* (i),Sc*(p,q))을 획득함; 및d) 상기 외삽된 열화상 스캔(Sc*(i),Sc*(p,q))에 기초하여 상기 조사표면(SV)의 온도를 모니터링함;을 포함하며,상기
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