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연합인증

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QFN 반도체 패키지, 이의 제조방법 및 QFN 반도체 패키지 제조용 마스크 시트 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-023/495
  • H01L-021/02
  • H01L-021/324
  • H01L-021/56
  • H01L-023/28
출원번호 10-2017-0059390 (2017-05-12)
공개번호 10-2018-0103647 (2018-09-19)
등록번호 10-2032767-0000 (2019-10-10)
DOI http://doi.org/10.8080/1020170059390
발명자 / 주소
  • 심창훈 / 서울특별시 양천구 신정로 ***, 현대아이파크 ***동 ****호
  • 최성환 / 경기도 고양시 일산동구 위시티*로 **, ***동 ***호 (식사동, 위시티일산자이*단지아파트)
  • 황인혁 / 충청북도 음성군 삼성면 덕정로 **-* 음성삼성휴먼시아 ***동 ****호
출원인 / 주소
  • (주)인랩 / 대전광역시 유성구 문지로 *** ,진리관T-***(카이스트문지캠퍼스)
대리인 / 주소
  • 김병주
심사청구여부 있음 (2017-05-12)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

본 발명은 우수한 다이 접합성 및 와이어 접합성을 구현하고 봉지수지의 누설을 효과적으로 억제할 수 있고 이를 통해 QFN 반도체 패키지의 신뢰성과 제조 공정에서 생산성과 효율성을 높일 수 있는 QFN 반도체 패키지, 이의 제조방법 및 QFN 반도체 패키지 제조용 마스크 시트에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 QFN 반도체 패키지는 마스크 시트에 리드프레임을 임프린팅하는 라미네이션 공정을 통해 마스크 시트의 접착층에 접촉단차(contact depth)를 형성하여 제조되는 것을 특징으로 한다.

대표청구항

마스크 시트에 리드프레임을 임프린팅하는 라미네이션 공정을 통해 상기 마스크 시트의 접착층에 0.5 내지 3㎛의 접촉단차(contact depth)를 형성하여 상기 리드프레임과 상기 마스크 시트 사이에서 접촉단차에 의한 클램핑(Clamping) 효과를 가지는 것을 특징으로 하는, QFN 반도체 패키지.

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. [한국] 반도체 공정용 점착테이프 및 이를 이용한 반도체 장치의 제조방법 | 박윤민, 최성환, 심창훈, 문기정, 김연수
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