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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2017-0154087 (2017-11-17) | |
공개번호 | 10-2019-0056785 (2019-05-27) | |
등록번호 | 10-2074393-0000 (2020-02-06) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020170154087 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2017-11-17) | |
심사진행상태 | 등록결정(재심사후) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 근적외선 분광법을 이용한 비파괴 품질측정장치에 관한 것으로, 피검체에 근적외선을 조사하는 광원부, 상기 광원부로부터 조사된 근적외선이 상기 피검체로부터 반사되는 빛을 수광하는 디텍터부, 및 상기 피검체가 안착되며 상기 피검체의 무게에 따라 하부 형태가 변하는 안착유닛을 포함할 수 있다.
피검체에 근적외선을 조사하는 광원부;상기 광원부로부터 조사된 근적외선이 상기 피검체로부터 반사되는 빛을 직접 수광하는 디텍터부; 및상기 피검체가 안착되며 상기 피검체의 무게에 따라 하부 형태가 변하는 안착유닛;을 포함하고,상기 광원부는 상기 안착유닛의 하측에 위치되며, 상기 디텍터부의 양측에 대칭으로 위치되며,상기 안착유닛은,상부로 갈수록 직경이 커지는 원통 형태이고, 상기 피검체의 측면과 접촉하는 측면부; 및상기 측면부와 일체로 형성되고, 상기 측면부 내주면의 하단에서 상측으로 반구 형태로 연장되며 중앙에 원형홀을 포함하며, 상기
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