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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2021-0052955 (2021-04-23) | |
공개번호 | 10-2022-0146732 (2022-11-02) | |
등록번호 | 10-2674517-0000 (2024-06-07) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020210052955 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2021-04-23) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 광학계를 이용한 검사장치에 관한 것이다. 비전기기는 촬상 부위가 하측을 향한 상태로 장치 프레임에 장착된다. 미러는 피검사물로부터 받은 광을 비전기기로 반사시킨다. 각도 조절기는 미러를 수평축을 중심으로 상하 틸트시켜 피검사물에 대한 미러의 각도를 단계별로 조절한다. 수직거리 조절기는 장치 프레임에 장착된 상태로 미러의 단계별 각도 조절에 맞춰 설정된 미러의 수직거리만큼 각도 조절기를 승강시켜 피검사물에 대한 미러의 수직거리를 단계별로 조절한다.
장치 프레임;촬상 부위가 하측을 향한 상태로 상기 장치 프레임에 장착되는 적어도 하나 이상의 비전기기;피검사물로부터 받은 광을 상기 비전기기로 반사시키는 미러;상기 미러를 수평축을 중심으로 상하 틸트시켜 피검사물에 대한 미러의 각도를 단계별로 조절하기 위한 각도 조절기; 및상기 장치 프레임에 장착된 상태로 상기 미러의 단계별 각도 조절에 맞춰 설정된 미러의 수직거리만큼 상기 각도 조절기를 승강시켜 피검사물에 대한 미러의 수직거리를 단계별로 조절하기 위한 수직거리 조절기;를 포함하며,상기 각도 조절기는,상측에 상기 미러를 지지하고 하
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