[특허]광학식 검사 장치 및 광학식 검사 방법

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광학식 검사 장치 및 광학식 검사 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	한국(KR)/공개특허	크게보기
국제특허분류(IPC8판)	G01N-021/88 G01N-021/25 G02F-001/13 H01L-051/56
출원번호	10-2018-0036120 (2018-03-28)
공개번호	10-2019-0114072 (2019-10-10)
DOI	http://doi.org/10.8080/1020180036120
발명자 / 주소	김재천 / 충청남도 아산시 외암로 **, 청솔아파트 동 *호 (장존동) 이현민 / 대전광역시 유성구 송강로번길 , 송강청솔아파트 동 호 (송강동) 주병권 / 대전광역시 유성구 반석동로 , 반석마을단지아파트 동 **호 (반석동)
출원인 / 주소	삼성디스플레이 주식회사 / 경기도 용인시 기흥구 삼성로 * (농서동) (주) 인텍플러스 / 대전광역시 유성구 테크노로 ** (탑립동)
대리인 / 주소	특허법인가산
심사진행상태	등록결정(재심사후)
법적상태	공개

초록 ▼

광학식 검사 장치 및 검사 방법이 제공된다. 광학식 검사 장치는 제1 파장영역을 가지는 제1 광을 디스플레이 모듈에 조사하는 제1 광원부와, 제1 파장영역과 다른 제2 파장영역을 가지는 제2 광을 디스플레이 모듈에 조사하는 제2 광원부와, 제1 및 제2 파장영역과 다른 제3 파장영역을 가지는 제3 광을 디스플레이 모듈에 조사하는 제3 광원부와, 디스플레이 모듈에서 반사된 제1 광 내지 제3 광을 수광하여 검사용 영상을 반복하여 생성하는 카메라와, 카메라의 반복되는 각각의 촬영시 제1 광 내지 제3 광중 일부만 디스플레이 모듈에 조사

대표청구항 ▼

제1 파장영역을 가지는 제1 광을 디스플레이 모듈에 조사하는 제1 광원부; 및상기 제1 파장영역과 다른 제2 파장영역을 가지는 제2 광을 상기 디스플레이 모듈에 조사하는 제2 광원부; 및상기 제1 및 제2 파장영역과 다른 제3 파장영역을 가지는 제3 광을 상기 디스플레이 모듈에 조사하는 제3 광원부; 및상기 디스플레이 모듈에서 반사된 상기 제1 광 내지 제3 광을 수광하여 검사용 영상을 반복하여 생성하는 카메라; 및상기 카메라의 반복되는 각각의 촬영시 상기 제1 광 내지 제3 광 중 일부만 상기 디스플레이 모듈에 조사되도록 상기 제

발명자의 다른 특허 :

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특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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