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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2021-0095794 (2021-07-21) | |
공개번호 | 10-2023-0014916 (2023-01-31) | |
등록번호 | 10-2543065-0000 (2023-06-08) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020210095794 | |
발명자 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2021-07-21) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
화학적 성분 분석 장치 및 화학적 성분 분석 방법이 제공된다. 상기 화학적 성분 분석 장치는 이중 에너지 엑스선을 어느 재료에 조사하여 이미지를 획득하고, 획득된 이미지에서 질량감쇠계수를 측정하는 질량감쇠계수 측정부 및 목적 함수의 최소화 및 정수 조건을 기반으로 화학적 성분을 산출하고, 상기 질량감쇠계수 및 화학적 성분을 이용하여 질량대비 함량비를 산출하며, 상기 화학적 성분 및 함량비를 이용하여 유효 원자 번호를 산출하는 제어부를 포함한다.
장치에 의해 수행되는, 이중 에너지 엑스선을 이용하여 화학적 성분을 분석하는 방법으로서,이중 에너지 엑스선을 어느 재료에 조사하여 이미지를 획득하고, 획득된 이미지에서 질량감쇠계수를 측정하는 단계;목적 함수의 최소화 및 정수 조건을 기반으로 상기 어느 재료에 대한 화학적 성분을 산출하는 단계;상기 질량감쇠계수 및 화학적 성분을 이용하여 질량대비 함량비를 산출하는 단계; 및상기 화학적 성분 및 함량비를 이용하여 유효 원자 번호를 산출하는 단계를 포함하는 화학적 성분 분석 방법.
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