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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2023-0073501 (2023-06-08) | |
공개번호 | 10-2023-0087433 (2023-06-16) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020230073501 | |
발명자 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2023-06-08) | |
법적상태 | 공개 |
화학적 성분 분석 장치 및 화학적 성분 분석 방법이 제공된다. 상기 화학적 성분 분석 장치는 이중 에너지 엑스선을 어느 재료에 조사하여 이미지를 획득하고, 획득된 이미지에서 질량감쇠계수를 측정하는 질량감쇠계수 측정부 및 목적 함수의 최소화 및 정수 조건을 기반으로 화학적 성분을 산출하고, 상기 질량감쇠계수 및 화학적 성분을 이용하여 질량대비 함량비를 산출하며, 상기 화학적 성분 및 함량비를 이용하여 유효 원자 번호를 산출하는 제어부를 포함한다.
장치에 의해 수행되는, 이미지를 활용한 화학적 성분의 분석 방법에 있어서,이중 에너지 엑스선을 재료에 조사하여 이미지를 획득하고, 획득된 이미지에서 질량감쇠계수를 측정하는 단계;정수 조건을 만족하는 화학적 성분의 이론적 질량감쇠계수와 상기 이미지에서 측정된 질량감쇠계수의 차이가 일정범위 이내인지 여부를 판단하는 단계;상기 차이가 일정범위 이내인 경우, 상기 질량감쇠계수 및 화학적 성분을 이용하여 질량대비 함량비를 산출하는 단계; 및상기 화학적 성분 및 함량비를 이용하여 유효 원자 번호를 산출하는 단계를 포함하는, 방법.
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