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연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

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최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

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고 해상도 SEM 이미지 구현 장치 및 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/공개특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G06T-003/40
  • G06N-003/08
  • G06T-005/00
  • G06T-007/11
출원번호 10-2021-0131782 (2021-10-05)
공개번호 10-2023-0020879 (2023-02-13)
우선권정보 대한민국(KR) 1020210102440 (2021-08-04)
DOI http://doi.org/10.8080/1020210131782
발명자 / 주소
  • 이호준 / 경기도 고양시 일산서구 일중로 **, ***동 ****호(일산동,산들마을*단지)
  • 김일권 / 경기도 화성시 동탄대로*길 **(장지동,동탄레이크자연앤푸르지오)
  • 박상걸 / 경기도 화성시 영통로**번길 **, ***동 ***호(반월동,반달마을두산위브아파트)
  • 정창욱 / 경기도 화성시 금반*길 **-*, *동 *호(반송동)
  • 차문현 / 경기도 용인시 기흥구 탑실로 ***(공세동,탑실마을대주피오레*단지)
  • 김샛별 / 서울특별시 서초구 서운로 ***(서초동,서초동아타워)
출원인 / 주소
  • 삼성전자주식회사 / 경기도 수원시 영통구 삼성로 *** (매탄동)
대리인 / 주소
  • 특허법인가산
법적상태 공개

초록

고 해상도 SEM 이미지 구현 장치 및 방법, 그리고 시스템이 제공된다. 몇몇 실시예들에 따른 고 해상도 SEM 이미지 구현 장치는, 저 해상도 SEM(Scanning Electron Microscope) 이미지를 크롭핑(cropping)하여 제1 크롭핑 이미지 및 제2 크롭핑 이미지를 생성하는 크롭핑부, 제1 크롭핑 이미지 및 제2 크롭핑 이미지를 업 스케일링(up scaling)하여 제1 업 스케일링 이미지와 제2 업 스케일링 이미지를 생성하는 업 스케일링부, 및 제1 업 스케일링 이미지와 제2 업 스케일링 이미지에 대해, 노이

대표청구항

저 해상도 SEM(Scanning Electron Microscope) 이미지를 크롭핑(cropping)하여 제1 크롭핑 이미지 및 제2 크롭핑 이미지를 생성하는 크롭핑부;상기 제1 크롭핑 이미지 및 제2 크롭핑 이미지를 업 스케일링(up scaling)하여 제1 업 스케일링 이미지와 제2 업 스케일링 이미지를 생성하는 업 스케일링부; 및상기 제1 업 스케일링 이미지와 제2 업 스케일링 이미지에 대해, 노이즈를 제거하여 제1 노이즈 제거 이미지와 제2 노이즈 제거 이미지를 생성하는 노이즈 제거부를 포함하는 고 해상도 SEM 이미지

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