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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2022-7018360 (2022-05-30) | |
공개번호 | 10-2022-0095216 (2022-07-06) | |
우선권정보 | 미국(US) 62/928,513 (2019-10-31);미국(US) 16/852,359 (2020-04-17) | |
국제출원번호 | PCT/US2020/057810 (2020-10-29) | |
국제공개번호 | WO 2021/087014 (2021-05-06) | |
번역문제출일자 | 2022-05-30 | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020227018360 | |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 공개 |
렌더링된 이미지는 정렬된 렌더링된 이미지를 생성하기 위해 주사 전자 현미경(SEM) 이미지와 정렬된다. 참조 이미지는 SEM 이미지와 정렬되어 정렬된 참조 이미지를 생성한다. 임계 확률 맵도 생성된다. SEM 이미지와 정렬된 참조 이미지의 동적 보상은 수정된 SEM 이미지와 수정된 참조 이미지를 생성할 수 있다. 임계 결함 맵이 생성될 수 있고, 임계 확률 맵의 결함 및 임계 결함 맵의 신호 대 잡음비 결함은 관심 결함 클러스터를 생성하기 위해 광대역 플라즈마 기반 속성을 사용하여 필터링된다.
방법에 있어서, 프로세서를 사용하여:정렬된 렌더링된(rendered) 이미지를 생성하도록 렌더링된 이미지를 주사 전자 현미경(SEM) 이미지와 정렬하는 단계;정렬된 참조 이미지를 생성하도록 참조 이미지를 상기 SEM 이미지와 정렬하는 단계;임계 확률 맵을 생성하는 단계 - 상기 임계 확률 맵은, 상기 SEM 이미지 및 상기 정렬된 렌더링된 이미지에서 하나 이상의 결함을 검출하는 것과,임계 확률 맵을 생성하도록 상기 하나 이상의 결함을 관심 결함 또는 누이선스(nuisance)로서 분류하는 것에 의해 생성됨 -;보정된 SEM 이미지
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