[특허]반도체 칩의 특성 검사장치

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[한국특허] 반도체 칩의 특성 검사장치 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	한국(KR)/공개실용신안
국제특허분류(IPC8판)	H01L-021/66
출원번호	20-1994-0034028 (1994-12-14)
공개번호	20-1996-0025381 (1996-07-22)
DOI	http://doi.org/10.8080/2019940034028
발명자 / 주소	한기원 / 전라북도정주시망제동**번지
출원인 / 주소	대우전자부품(주) / 경기 군포시 당정동 ***번지
대리인 / 주소	황의만 (HWANG, Euy Man) 서울 강남구 개포동 **- 만성빌딩(만성국제특허법률사무소)
심사진행상태	취하(심사미청구)
법적상태	취하

초록

[청구범위]1. 삽입된 반도체 칩을 텍스툴에 고정시켜 전기적으로 연결시키는 고정손잡이의 이동에 따라 작동하는 스위치와, 상기 스위치의 작동에 따라 출력되는 신호를 완충하는 버퍼부와, 상기 버퍼부에서 출력된 신호를 클럭펄스로 하여 출력신호를 래치시키는 래치부와, 상기 래치부의 출력신호를 이네이블 신호로 하여 반도체 칩의 특성을 검사하는 검사부로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 칩의 특성검사장치.

대표청구항

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특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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