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[한국특허] 집적회로 검사장치 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/공개실용신안
국제특허분류(IPC8판)
  • G01R-031/28
출원번호 20-1995-0037771 (1995-12-01)
공개번호 20-1997-0045267 (1997-07-31)
DOI http://doi.org/10.8080/2019950037771
발명자 / 주소
  • 예성표 / 전라북도정읍시망제동**-**
출원인 / 주소
  • 대우전자부품(주) / 경기 군포시 당정동 ***번지
대리인 / 주소
  • 황의만 (HWANG, Euy Man)
  • 서울 강남구 개포*동 ****-* 만성빌딩(만성국제특허법률사무소)
심사청구여부 있음 (1995-12-01)
심사진행상태 거절결정(일반)
법적상태 거절

초록

[청구범위]D프로세서와 연결된 키보드와, 상기한 프로세서에 연결된 테스트 보드를 포함하는 집적 회로 검사 장치에 있어서, 상기한 테스트 보드(52)에 키보드(51)와 데이터 전송 가능하도록 연결되어 구동프로그램을 실행시킬 수 있도록 구성된 보조 콘트롤 판넬(1)을 설치하여 구성함을 특징으로 하는 집적 회로 검사 장치.

대표청구항

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