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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개실용신안 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 20-1996-0027854 (1996-09-02) |
공개번호 | 20-1998-0014702 (1998-06-25) |
DOI | http://doi.org/10.8080/2019960027854 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (1996-09-02) |
심사진행상태 | 거절결정(일반) |
법적상태 | 거절 |
본 고안은 반도체 소자에 관한 것으로, 특히 고신뢰성 및 저전력의 구동 특성을 갖는 반도체 장치에 관한 것이다.본 발명의 반도체 장치는 반도체 기판과, 상기 반도체 기판의 소자 격리 영역에 형성되는 필드 산화막과, 상기 필드 산화막에 의해 정의된 활성 영역에 형성되어 그 두께가 어느 한 방향으로 갈수록 두꺼워지는 게이트 산화막과, 상기 게이트 산화막상에 형성되는 게이트 전극과, 상기 게이트 전극 양측면에 형성되는 게이트 측벽과, 상기 게이트 전극의 일측과 타측의 반도체 기판에 형성되는 소오스/드레인 영역을 포함하여 구성된다.
반도체 기판과,상기 반도체 기판의 소자 격리 영역에 형성되는 필드 산화막과,상기 필드 산화막에 의해 정의된 활성 영역에 형성되어 그 두께가 어느 한 방향으로 갈수록 두꺼워지는 게이트 산화막과, 상기 게이트 산화막상에 형성되는 게이트 전극과, 상기 게이트 전극 양측면에 형성되는 게이트 측벽과, 상기 게이트 전극의 일측과 타측의 반도체 기판에 형성되는 소오스/드레인 영역을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
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