$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Decoupling capacitor sizing and placement 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-017/50
출원번호 US-0268236 (2002-10-10)
발명자 / 주소
  • Nassif, Sani Richard
  • Su, Haihua
출원인 / 주소
  • International Business Machines Corporation
인용정보 피인용 횟수 : 17  인용 특허 : 4

초록

A method and system for reducing noise in a power grid of an integrated circuit, which optimizes the placement and sizing of decoupling capacitors in the power grid. Logic cells are located in a first layout of the integrated circuit with empty spaces between the adjacent cells, and the placement of

대표청구항

1. A method of reducing noise in a power grid of an integrated circuit, comprising the steps of:locating logic cells in a first layout of the integrated circuit with empty spaces between the adjacent cells; iteratively changing the placement of the cells to a second layout wherein the size of the em

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Johansson Ted (Hagersten SEX) Gobbi Jose-Maria (Stockholm SEX), Capacitor in an integrated function block or an integrated circuit having high capacitance, a method for manufacturing s.
  2. Bernstein, Kerry; Cohn, John M.; Neves, Jose L. P., Method for adding decoupling capacitance during integrated circuit design.
  3. Armin M Reith ; Louis Hsu ; Henning Haffner ; Gunther Lehmann, Optimized decoupling capacitor using lithographic dummy filler.
  4. Reith Armin M. ; Hsu Louis ; Haffner Henning ; Lehmann Gunther, Optimized decoupling capacitor using lithographic dummy filler.

이 특허를 인용한 특허 (17)

  1. Sharma, Harsh Dev; Srivastava, Rajeev; Kommoori, Srivinas R.; Bhushan, Bharat; Parui, Mithunjoy; Lee, Albert, Automatic placement of decoupling capacitors.
  2. Brunschwiler, Thomas J.; Gerke, Sebastian; Oggioni, Stefano Sergio, Circuitized substrate with electronic components mounted on transversal portion thereof.
  3. Hopkins, Jeremy T.; Papa, David A.; Ward, Samuel I., Decoupling capacitor insertion using hypergraph connectivity analysis.
  4. Huang, Shen-Yu; Lin, Chih-Ching, Digital circuit block having reducing supply voltage drop and method for constructing the same.
  5. Carlsen, Kurt A.; Chiu, Charles S.; Garofano, Umberto; Pang, Ze Gui; Tremble, Eric W.; Toub, David; Wemple, Ivan L., Early decoupling capacitor optimization method for hierarchical circuit design.
  6. Ogawa,Yasushige, Layout method of decoupling capacitors.
  7. Devgan,Anirudh; Metcalfe,Roderick; Raghavan,Vivek; Wong,Alfred, Lithographically optimized placement tool.
  8. Bartley,Gerald Keith; Becker,Darryl John; Dahlen,Paul Eric; Germann,Philip Raymond; Maki,Andrew B.; Maxson,Mark Owen; Sheets, II,John Edward, Method and apparatus for implementing silicon wafer chip carrier passive devices.
  9. Sinha,Snehamay; Ghosh,Bipasha; Srinivasa,Raghu Nandan; Kiel,Stephen N., Method for estimating substrate noise in mixed signal integrated circuits.
  10. Hu, Chi-Wei; Lin, Kuan-Yu; Chen, Wan-Chun; Liu, Chin-Chou, Method for placing decoupling capacitors.
  11. Sundareswaran, Savithri; Huang, Benjamin S.; Vaidyanathan, Ravi K., Method for provisioning decoupling capacitance in an integrated circuit.
  12. Verghese, Nishath; Tseng, Kenneth, Method to analyze and correct dynamic power grid variations in ICs.
  13. Rahmat, Khalid; McElvain, Kenneth S., Methods and apparatuses for transient analyses of circuits.
  14. Rahmat,Khalid; McElvain,Kenneth S., Methods and apparatuses for transient analyses of circuits.
  15. Riviere-Cazaux, Lionel J., Placing filler cells in device design based on designation of sensitive feature in standard cell.
  16. Uchida,Kohei, System for placing elements of semiconductor integrated circuit, method of placing elements thereon, and program for placing elements.
  17. Bickford, Jeanne P.; Goss, John R.; Habib, Nazmul; McMahon, Robert J., Testing method using a scalable parametric measurement macro.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로