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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0893355 (2007-08-15) |
등록번호 | US-7768269 (2010-08-24) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 30 인용 특허 : 11 |
A method of responding to voltage or current transients during processing of a wafer in a plasma reactor at each of plural RF power applicators and at the wafer support surface. For each process step and for each of the power applicators and the wafer support surface, the method includes determining
The invention claimed is: 1. In a plasma reactor comprising a chamber with plural plasma power applicators and plural power generators coupled to said power applicators and a workpiece support pedestal with a workpiece support surface, a method of monitoring arcing in said chamber, comprising: carr
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