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NTIS 바로가기등록일자 | 2014-12-11 |
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출처 | RESEAT |
URL | https://www.reseat.or.kr/portal/cmmn/file/fileDown.do?menuNo=200019&atchFileId=773ad941d54340dca9ff09fba230c447&fileSn=1&bbsId= |
○ 최근의 주사전자현미경(SEM)은 특별히 저 가속전압영역에서 실효적인 공간분해능이 높게 향상되었으며 특별히 복수의 검출기를 이용해서 종래의 SEM에서 얻지 못한 다양한 미세구조정보를 비교적 쉬게 얻게 되었다. SEM장치의 구조와 특징을 설명하며 관찰사례를 소개한다. 특별히 SEM은 정전기장형 렌즈의 제작으로 1kV이하의 극 저 가속전압에서 가늘게 집속된 전자선탐침이 얻어져 높은 분해능 SEM상을 얻을 수 있으며 작은 대전으로 유리와 같은 비도전성 시료 관찰도 가능하다.
○ SEM은 대단히 정밀한 기기로서 전자빔
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