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증착박막 및 첨단 신소재의 분석기법 연구
A Study on the Analytical Techniques of the Thin Films and High-Tech. Materials 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 한국과학기술연구원
Korea Institute Of Science and Technology
연구책임자 김영만
참여연구자 정찬이 , 한봉한
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월1994-10
주관부처 과학기술부
사업 관리 기관 한국과학기술연구원
Korea Institute Of Science and Technology
등록번호 TRKO200200007058
DB 구축일자 2013-04-18

초록

ㅇ 연구결과 1) 페로브스카이트형 산화물인 PZT 압전 세라믹스 제조에서 시편의 소결온도에 따른 PbO, TiO2, ZrO2의 상변화를 관찰한 결과 TiO2는 실온에서부터 400℃까지 존재하고 ZrO2와 PbO는 700℃까지 존재하고 있음을 XRD로 관찰할 수 있었다. 500℃에 다달았을 때 PbTiO3 피크가 보이기 시작하여 650℃까지 존재하였고 PZT는 650℃부터 생기기 시작하여 온도가 올라갈수록(1200℃까지) PZT의 결

목차 Contents

  • A. 첨단 신소재의 분석 평가 기법 연구...19
  • 제1장 서론...19
  • 제2장 실험...23
  • 제1절 X-선 회절 분석 및 구조 분석...25
  • 제2절 X-선 형광 분석...29
  • 제3절 방출 분광 분석...32
  • 제4절 기타 분석법...36
  • 제3장 결과 및 고찰...38
  • 제1절 X-선 회절 분석 및 구조 분석...38
  • 제2절 X-선 형광 분석...54
  • 제3절 방출 분광 분석...60
  • 제4절 기타 분석법...73
  • 제5절 분석결과의 비교...74
  • 제4장 결론...76
  • B. 절연체 재료의 표면분석 평가기법 연구...77
  • 제1장 서론...77
  • 제2장 실험...80
  • 제1절 시료준비...80
  • 제2절 특성조사...82
  • 제3장 결과 및 고찰...84
  • 제1절 XPS에 의한 분석...84
  • 제2절 RBS에 의한 분석...101
  • 제3절 SIMS에 의한 분석...104
  • 제4장 결론...106
  • 참고문헌...107

연구자의 다른 보고서 :

참고문헌 (25)

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