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NTIS 바로가기주관연구기관 | 경기대학교 공과대학 재료공학과 |
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연구책임자 | 김동원 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 1994-02 |
주관부처 | 과학기술부 |
사업 관리 기관 | 과학기술부 Ministry of Science & Technology |
등록번호 | TRKO200200017259 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
키워드 | 실리콘 박막전극.비정질 실리콘 박막 전극.저압화학중착법.in-situ 도핑.Si2H4 가스.PH3 가스.TFT 소자.차세대 전극.256M DRAM.Si Film Electrode.Amorphous Si Film Electrode.LPCVD.in-situ Doping.Si2H4 Gas.PH3 Gas.TFT Device.New Generation Electrode. |
Si?H? 가스와 PH? 가스를 이용하여 저압화학증착법에 의해 제조된 인 도핑된 비정질 박막은 차세대 전극으로 사용하기 위해 개발되었다. Si?H? 가스를 사용하여 저온에서 비정질 Si 박막을 형성하며 PH? 가스로 in-situ 도핑 방식으로 도핑하여 제작된 인 도핑된 비정질 Si 박막은 조대한 결정립, 결함제거 및 박막의 완벽한 결정성을 나타낸다. 이와 같은 우수한 미세구조에 의해 Si 박막 전극의 저항을 낮출 수 있으며, polyoxide의 특성을 개선시킬 수 있으며, 도펀트들의 out-diffusion에 의한 접합깊이를
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