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인 도핑된 비정질 실리콘 박막을 이용한 차세대 전극 개발
Development of the new generation electrode using in-situ P doped amorphous silicon film 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 경기대학교 공과대학 재료공학과
연구책임자 김동원
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월1994-02
주관부처 과학기술부
사업 관리 기관 과학기술부
Ministry of Science & Technology
등록번호 TRKO200200017259
DB 구축일자 2013-04-18
키워드 실리콘 박막전극.비정질 실리콘 박막 전극.저압화학중착법.in-situ 도핑.Si2H4 가스.PH3 가스.TFT 소자.차세대 전극.256M DRAM.Si Film Electrode.Amorphous Si Film Electrode.LPCVD.in-situ Doping.Si2H4 Gas.PH3 Gas.TFT Device.New Generation Electrode.

초록

Si?H? 가스와 PH? 가스를 이용하여 저압화학증착법에 의해 제조된 인 도핑된 비정질 박막은 차세대 전극으로 사용하기 위해 개발되었다. Si?H? 가스를 사용하여 저온에서 비정질 Si 박막을 형성하며 PH? 가스로 in-situ 도핑 방식으로 도핑하여 제작된 인 도핑된 비정질 Si 박막은 조대한 결정립, 결함제거 및 박막의 완벽한 결정성을 나타낸다. 이와 같은 우수한 미세구조에 의해 Si 박막 전극의 저항을 낮출 수 있으며, polyoxide의 특성을 개선시킬 수 있으며, 도펀트들의 out-diffusion에 의한 접합깊이를

목차 Contents

  • I. 서 론...9
  • II. 실 험 방 법...13
  • III. 실험결과 및 고찰...14
  • III-1. Undoped Si 및 in-situ doped Si 박막의 최적 화학중착조건...14
  • III-2. Undoped Si 박막 및 in-situ doped Si 박막의 미세구조...25
  • III-2-1. 박막층의 결정성 및 우선성장방위...25
  • III-2-2. Si 박막층의 grain structure 및 grain growth 기구...43
  • III-2-3. Si 박막의 grain growth 중진...49
  • III-3. In-situ doping 우수성...54
  • III-4. Step coverage 특성...66
  • III-5. In-situ doped Si 박막 전극의 전기적 성질...75
  • IV. 결 론...90
  • 참 고 문 헌...92

참고문헌 (25)

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