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NTIS 바로가기주관연구기관 | 인하대학교 InHa University |
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연구책임자 | 김병국 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 1997-04 |
주관부처 | 과학기술부 |
과제관리전문기관 | 인하대학교 InHa University |
등록번호 | TRKO200200018605 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
키워드 | 3차원 정밀측량 시스템.Image Sensor.데오들라이트 시스템.Laser 변형관측시스템.Bundle Program.3-D Precision Measuring System.Image Sensor.Theodolite System.Laser Deformation Measuring System.Bundle Program. |
각종 구조물의 정확한 치수, 정밀한 변형의 관측에의 요구로 인하여 정밀측량의 분야가 측량에서의 새로운 분야로 등장하고 있다. 기계적인 접촉식 정밀측정의 방법으로는 CMM(Coordinate Measuring Machnine)등이, 접촉식 변형관측의 방법으로는 전기적 원리를 이용한 strain gauge등이 사용되어져 왔으나 그 방법들의 사용에는 나름대로의 문제들이 존재하였다. 광학적, 비접촉식 정밀측량의 방법으로서 데오돌라이트를 이용한 3차원 정밀측량시스템이 있으며, 작은 변형 및 진동 등의 짧은 시간내의 많은 움직임을
The precision Measurement techique is emerged for a newsurveying field as the demands of accurate dimansion measurements and precisedeformation monitoring are increasing.CMMs(Coordinate Measuring Machine) as mechanical tools for contact positionmeasurements and strain gauges as elect
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