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초정밀 가공의 정밀도 측정 기술 개발
Ultraprecision Surface Measurement by Phase-Measuring Interferometry 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 한국기계연구원
Korea Institute of Machinery and Materials
연구책임자 김승우
참여연구자 민선규 , 공인복 , 이형석
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월1992-09
주관부처 과학기술부
사업 관리 기관 한국기계연구원
Korea Institute of Machinery and Materials
등록번호 TRKO200200053721
DB 구축일자 2013-04-18

초록

본 연구의 최종목표는 다음과 같다.1) 광위상간섭측정원리를 위한 기초기술의 정립 광위상간섭측정원리를 이용하여 광학식 측정이론의 기초를 정립하였으며 이를 토대로 측정시스템의 설계와 제작을 완료하였다.2) 광위상간섭 형상 측정시스템을 위한 광전자시스템 설계 기술 광위상간섭 형상 측정을 위한 광전자적 시스템에 대한 제반 연구와 광학시스템의 설계기술이 확보되었다.3) 간섭무늬해석을 위한 영상처리 기술 및 보정 측정시스템으로부터 얻어진 간섭무늬의 해석을 위한 영상처리알고리듬을 개발하였으며 측정결과의 보정을 수행하였다.4) 구면/비구면

Abstract

The scopes of the research work are summarized as :1) Feasibility study appplication of the principle of phase measuring interferometry for the measurement of surface profile machined with an accuracy of 1㎚.2) Design of the necessary hardware of optical and electronic systems to realize the PMI prin

목차 Contents

  • 제 1 장. 서 론...15
  • 1.1 연구동기...15
  • 1.2 연구 현황...16
  • 1.3 연구 목표 및 내용...17
  • 제 2 장. 기본 측정 원리...18
  • 2.1 기초 이론...18
  • 2.1.1 위상측정방법...21
  • 2.2 측정 한계...25
  • 2.3 측정분해능...28
  • 2.4 간섭계의 종류...28
  • 2.5 계산결과의 보정...30
  • 제 3 장. 간섭무늬의 해석 및 노이즈 추출...32
  • 3.1 해석개요...32
  • 3.2 페이즈 언래팽...33
  • 3.3 측정영역의 결정...35
  • 3.4 노이즈 영역의 추출...35
  • 3.4.1 측정데이타가 갖추어야 할 조건...35
  • 3.4.2 고립점의 분포형상...40
  • 3.4.3 고립점과 그 연결선의 추출...43
  • 3.4.3.1 고립점의 체킹...43
  • 3.4.3.2 고립점들 사이의 연결상태 체킹...44
  • 제 4 장. 측정시스템의 구성...45
  • 4.1 광학 시스템...45
  • 4.1.1 레이저 발생부...45
  • 4.1.2 간섭부...46
  • 4.1.3 PZT 트랜스듀서...46
  • 4.1.4 위상 측정 장치(Signal decoder)...47
  • 4.1.5 방진테이블...48
  • 4.2 디지탈 데이타 처리...48
  • 제 5 장. 실 험...50
  • 5.1 실험...50
  • 5.2 토의...50
  • 제 6 장. 결론 및 향후 과제...54
  • 6.1 결론...54
  • 6.1.1 측정 원리의 제시 및 측정 시스템 설계 및 제작...54
  • 6.1.2 간섭 무늬 영상 처리 해석...54
  • 6.1.3 실 험...55
  • 6.2 향후 과제...55
  • 6.2.1 실험장치...55
  • 6.2.2 알고리듬...56
  • 7. 참고문헌...57

연구자의 다른 보고서 :

참고문헌 (25)

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