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50nm급 나노공정 측정 및 평가 기술 개발
Nano-process measurement and evaluation technology (50 nm) 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 한국기계연구원
Korea Institute of Machinery and Materials
연구책임자 이학주
참여연구자 최병익 , 우창수 , 한승우 , 김정엽 , 김재현 , 박현성 , 김경식 , 현승민 , 장봉균 , 허신 , 이상주 , 최현주 , 이희정 , 박정민 , 전영선 , 조기호 , 안현균 , 김정실 , 정수정 , 송선아 , 전성재 , 배종성 , 김신우 , 장은정 , 김태옥 , 서정모 , Hasan
보고서유형2단계보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2008-05
과제시작연도 2007
주관부처 과학기술부
사업 관리 기관 한국과학재단
Korea Science and Engineering Foundtion
등록번호 TRKO201000012167
과제고유번호 1355049630
사업명 21세기프론티어연구개발사업
DB 구축일자 2013-04-18
키워드 박막(50nm).기계적 물성.광물성.시험기 상용화.인라인 모니터링.thin film(50nm).mechanical properties.optical properties.testing systems commercialization.in-line monitoring.

초록

□ 50 nm 급 공정용 소재의 기계적 물성 측정/측정 평가 기술
? 나노기둥압축시험법을 이용한 60 nm급 나노임프린트용 소재의 기계적 물성 측정
? 대칭형 AFM 캔틸레버와 4 점 굽힘 시험을 이용한 NIL용 폴리머의 접착특성 평가
? Bulge 시험기 제작 및 다층 박막의 기계적 물성 측정
공진법을 이용한 박막 물성 시험기 제작 및 급 박막 물성 측정 30 nm ?
? On-chip-tester 설계, 공정 개발 및 시제품제작
? NIL 공정용 점착증가막 및 점착방지막에 따른 점착력 평가

Abstract

o Development of measurement/evaluation technique and core technology
to produce measurement system for nano materials in 50nm level processing
o Mechanical properties of thin films and nano materials are essential to design
nano device and optimum process conditions
o There are increasi

목차 Contents

  • 표지 ...1
  • 제출문 ...2
  • 보고서 초록 ...4
  • 요약문 ...6
  • SUMMARY...8
  • CONTENTS...12
  • 목차 ...14
  • 제1장 연구개발과제의 개요 ...16
  • 제1절 연구개발의 배경 및 목적 ...16
  • 제2절 연구개발의 필요성 ...17
  • 제3절 연구개발의 목표 ...20
  • 제2장 국내외 기술개발 현황 ...24
  • 제1절 기계적 물성 및 형상 측정 ...24
  • 제2절 점착 특성 측정 ...28
  • 제3절 물리적 물성 측정 ...31
  • 제4절 In-line 모니터링 기술 ...34
  • 제5절 표준화 기술 ...36
  • 제3장 연구개발수행 내용 및 결과 ...38
  • 제1절 나노기둥압축시험법을 이용한 60 nm급 나노임프린트용소재의 기계적 물성 측정 ...38
  • 제2절 대칭형 AFM 캔틸레버를 이용한 나노 스케일의 점착력 특성 연구 ...41
  • 제3절 Bulge 시험기 제작 및 Al 박막의 기계적 물성 측정 ...46
  • 제4절 공진법을 이용한 박막 물성 시험기 제작 및 30 nm급 박막 물성 측정 ...49
  • 제5절 On-chip-tester 설계 및 시제품제작 ...54
  • 제6절 Wrinkle을 이용한 sub 50nm 박막의 기계적 물성 평가 ...60
  • 제7절 4 점 굽힘 시험을 이용한 NIL용 폴리머의 접착특성 평가 ...63
  • 제8절 AFM 모아레를 이용한 나노 구조물의 고 분해능 변형 측정기법 개발 ...67
  • 제9절 나노임프린트 공정에서 공정조건의 변화에 따른 점착현상 해석...71
  • 제10절 박막 고온 물성 시험장치 구성 및 물성평가 ...76
  • 제11절 폴리이미드 모재 위에 증착된 구리 박막의 기계적 물성과 전기저항 측정 ...83
  • 제12절 마이크로 인장 시험에서 Au 박막의 기계적-전기적 복합물성의 측정 ...85
  • 제13절 UV-NIL용 소재의 속도의존적인 점착력 측정 ...91
  • 제14절 금 박막의 인장 물성에 미치는 두께와 미세조직의 영향 ...94
  • 제15절 미소 인장/피로 시험기 및 나노 Probe 응용 물성 측정 ...101
  • 제16절 나노 공정용 소재의 물리적 물성 측정 및 손상 평가 기술 ...122
  • 제17절 In-line 공정 모니터링에 적용 가능한 측정 평가 기술 ...156
  • 제4장 목표달성도 및 관련분야에의 기여도 ...172
  • 제1절 목표달성도 ...172
  • 제2절 관련 분야 기여도 ...174
  • 제5장 연구개발결과의 활용계획 ...176
  • 제6장 연구개발과정에서 수집한 해외과학기술정보 ...178
  • 제7장 참고문헌 ...188

연구자의 다른 보고서 :

참고문헌 (25)

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