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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국기계연구원 Korea Institute of Machinery and Materials |
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연구책임자 | 이학주 |
참여연구자 | 최병익 , 우창수 , 한승우 , 김정엽 , 김재현 , 박현성 , 김경식 , 현승민 , 장봉균 , 허신 , 이상주 , 최현주 , 이희정 , 박정민 , 전영선 , 조기호 , 안현균 , 김정실 , 정수정 , 송선아 , 전성재 , 배종성 , 김신우 , 장은정 , 김태옥 , 서정모 , Hasan |
보고서유형 | 2단계보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2008-05 |
과제시작연도 | 2007 |
주관부처 | 과학기술부 |
사업 관리 기관 | 한국과학재단 Korea Science and Engineering Foundtion |
등록번호 | TRKO201000012167 |
과제고유번호 | 1355049630 |
사업명 | 21세기프론티어연구개발사업 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
키워드 | 박막(50nm).기계적 물성.광물성.시험기 상용화.인라인 모니터링.thin film(50nm).mechanical properties.optical properties.testing systems commercialization.in-line monitoring. |
□ 50 nm 급 공정용 소재의 기계적 물성 측정/측정 평가 기술
? 나노기둥압축시험법을 이용한 60 nm급 나노임프린트용 소재의 기계적 물성 측정
? 대칭형 AFM 캔틸레버와 4 점 굽힘 시험을 이용한 NIL용 폴리머의 접착특성 평가
? Bulge 시험기 제작 및 다층 박막의 기계적 물성 측정
공진법을 이용한 박막 물성 시험기 제작 및 급 박막 물성 측정 30 nm ?
? On-chip-tester 설계, 공정 개발 및 시제품제작
? NIL 공정용 점착증가막 및 점착방지막에 따른 점착력 평가
o Development of measurement/evaluation technique and core technology
to produce measurement system for nano materials in 50nm level processing
o Mechanical properties of thin films and nano materials are essential to design
nano device and optimum process conditions
o There are increasi
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