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NTIS 바로가기주관연구기관 | (주)이노포스 |
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연구책임자 | 정영환 |
참여연구자 | 이용영 , 최유진 , 이상영 , 국성미 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2009-06 |
과제시작연도 | 2008 |
주관부처 | 지식경제부 |
과제관리전문기관 | 정보통신연구진흥원 Institute for Information Technology Advancement |
등록번호 | TRKO201000018597 |
과제고유번호 | 1415087068 |
사업명 | IT산업경쟁력강화사업 |
DB 구축일자 | 2015-01-08 |
입력 신호 생성 회로를 통해 생성된 AC 주파수의 신호가 Probe Tip과 이송 장치를 통하여 고집적회로필름의 단자부 패턴에 주기적인 신호를 인가시켜 출력 단에서 검출되는 미세 신호를 증폭 하여 검출해내고 이를 분석 S/W를 통해서 패턴의 단락을 검사할 수 있는 시스템을 개발한다.
● 48mm FPCB Film의 단락 유무 검사 가능 및 성능 향상.
● Probe Tip 개발 - Pattern Pitch 100 ~ 200um급 개발 및 성능향상.
● 4열 156mm Multi Probe Sensor 개발.
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As through the input signal, AC frequency go to Probe Tip and transfer device and send the signal to circuit pattern's terminal's patten and get out the amplify signal from out point. We develop the testing system of short from S/W analysis.
A. Testing of short existence or nonexistence and perfo
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