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NTIS 바로가기주관연구기관 | 아주대학교 Ajou University |
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연구책임자 | 조두진 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2007-01 |
과제시작연도 | 2006 |
주관부처 | 중소기업청 |
연구관리전문기관 | 중소기업기술정보진흥원 Korea Technology & Information Promotion Agency for SMEs |
등록번호 | TRKO201100009297 |
과제고유번호 | 1420009443 |
사업명 | 산학연공동기술개발(균특) |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
1. 최종목표
LCD 패널의 성능을 평가하는 중요한 지표 중의 하나인 CR은 최소인 상태 즉 "dark" 상태의 광량이 결정한다. 광량이 최소가 되는 상태를 이루기 위해서는 편광판들과 LCD 액정판 간의 광축들이 정확하게 정렬되어 있어야 하며 LCD 패널 공정에서는 이와 같은 편광판의 광축, 액정의 배열방향 등을 정밀하게 측정하여 LCD 패널의 품질 수준을 높이려는 요구가 증대하고 있다. 본 기술개발에서는 이와 같이 정밀측정의 필요성이 높아지고 있는 편광판의 광축 정밀측정을 위해 투과형 타원계(Ellipsometer)의 기본
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