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[국가R&D연구보고서] PSA Ellipsometry 원리를 응용한 편광소재의 광축 측정용 고속 계측 장비 개발 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 아주대학교
Ajou University
연구책임자 조두진
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2007-01
과제시작연도 2006
주관부처 중소기업청
연구관리전문기관 중소기업기술정보진흥원
Korea Technology & Information Promotion Agency for SMEs
등록번호 TRKO201100009297
과제고유번호 1420009443
사업명 산학연공동기술개발(균특)
DB 구축일자 2013-04-18

초록

1. 최종목표
LCD 패널의 성능을 평가하는 중요한 지표 중의 하나인 CR은 최소인 상태 즉 "dark" 상태의 광량이 결정한다. 광량이 최소가 되는 상태를 이루기 위해서는 편광판들과 LCD 액정판 간의 광축들이 정확하게 정렬되어 있어야 하며 LCD 패널 공정에서는 이와 같은 편광판의 광축, 액정의 배열방향 등을 정밀하게 측정하여 LCD 패널의 품질 수준을 높이려는 요구가 증대하고 있다. 본 기술개발에서는 이와 같이 정밀측정의 필요성이 높아지고 있는 편광판의 광축 정밀측정을 위해 투과형 타원계(Ellipsometer)의 기본

목차 Contents

  • 3. 과제별 세부 집행내역(과제별 작성) ...1
  • Ⅰ. 조성 금액 ...1
  • Ⅱ. 과제개발비 집행내역 ...1
  • 개발결과의견서 ...4
  • 최종보고요약서(초록)...6
  • 목 차 ...8
  • 제 1 장 서론 ...9
  • 제 1 절 LCD 패널에서의 광 시야각 구현 ...9
  • 제 2 절 PVA 편광판 ...10
  • 제 3 절 기술개발의 필요성과 중요성 ...11
  • 제 2 장 과제개발 내용 및 방법...12
  • 제 1 절 개발 방향 ...12
  • 제 2 절 개발 내용 ...12
  • 제 3 절 개발 방법 ...15
  • 제 3 장 사업성과 ...16
  • 제 1 절 기술개발 성과 ...16
  • 제 2 절 기술개발 결과 ...19
  • 제 3 절 경제적 성과 ...23
  • 제 4 장 결론 ...24
  • 제 1 절 기술개발 요약 ...24
  • 제 2 절 향후 계획 ...25

참고문헌 (25)

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