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NTIS 바로가기주관연구기관 | 울산과학기술대학교 산학협력단 |
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연구책임자 | 박기복 |
참여연구자 | 권순용 , 고흥석 , 전영은 , 최재경 |
보고서유형 | 1단계보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2012-05 |
과제시작연도 | 2011 |
주관부처 | 교육과학기술부 |
사업 관리 기관 | 한국연구재단 |
등록번호 | TRKO201300017977 |
과제고유번호 | 1345144899 |
사업명 | 대형연구시설공동이용활성화지원분야 |
DB 구축일자 | 2013-08-26 |
키워드 | 실리콘 카바이드.그래핀.전자빔 조사.에피막 성장.열분해.SiC.Graphene.Electron Beam Irradiation.Epi-Growth.Thermal Dissociation. |
Ⅲ. 연구개발의 내용 및 범위
○ Hexagonal SiC (4H, 6H) 기판 상에 전자빔을 조사하여 표면 근처에서 발생하는 결정구조 변화 양상을 파악하고 이의 금속/SiC 접합면의 전기적 특성 변화와의 연관성을 규명함.
○ 전자빔 조사를 통한 표면 국한 가열을 통해 그래핀 에피막을 형성할 수 있는 실험적 조건을 탐색하고 형성된 그래핀 에피막의 구조적, 전기적 특성을 분석함.
We have developed new process methodologies to form a thin surface layer with a different crystal structure from the bulk or graphene epilayer by irradiating electron beam directly on hexagonal SiC. The formation of the thin layer with a different crystal structure occurs at relatively high accelera
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