초록 ▼

본 개발과제는 반도체 테스트장비에 들어가는 테스트 인스트루먼트 중 디지털 및 아날로그 테스트 인스트루먼트를 개발하는 과제입니다. 특히 디스플레이 드라이버 IC를 테스트하는데 적합한 디지털 및 아날로그 시그널을 생성하고 캡춰하여 비교 분석하는 기능을 갖는 보드들을 개발하는 것입니다. 이를 위해서는 약 200Mhz급의 디지털 신호를 생성하고 자유롭게 edge를 컨트롤 할 수 있는 디지털 보드가 개발되어야 하고 디스플레이 드라이버로 부터 출력되는 아날로그 신호를 캡춰하여 알맞게 출력되는지 검사할 수 있는 아날로그 보드가 개발되어야 합니다

본 개발과제는 반도체 테스트장비에 들어가는 테스트 인스트루먼트 중 디지털 및 아날로그 테스트 인스트루먼트를 개발하는 과제입니다. 특히 디스플레이 드라이버 IC를 테스트하는데 적합한 디지털 및 아날로그 시그널을 생성하고 캡춰하여 비교 분석하는 기능을 갖는 보드들을 개발하는 것입니다. 이를 위해서는 약 200Mhz급의 디지털 신호를 생성하고 자유롭게 edge를 컨트롤 할 수 있는 디지털 보드가 개발되어야 하고 디스플레이 드라이버로 부터 출력되는 아날로그 신호를 캡춰하여 알맞게 출력되는지 검사할 수 있는 아날로그 보드가 개발되어야 합니다. 이러한 보드의 개발을 통해 디스플레이 드라이버 IC를 비롯한 비메모리 반도체 테스트 장비의 국산화를 꾀하고 비용을 낮추는데 그 궁극적인 목적이 있습니다.

Abstract ▼

The goal of this project is to make digital test instrument board and analog test instrument board for testing DDI device. These test instrument boards can be installed in the ATE (Automatic Test Equipment) in semiconductor test line. Digital test instrument can generate and capture upto 200Mhz (400

The goal of this project is to make digital test instrument board and analog test instrument board for testing DDI device. These test instrument boards can be installed in the ATE (Automatic Test Equipment) in semiconductor test line. Digital test instrument can generate and capture upto 200Mhz (400Mbps) and control each edges freely. Analog test instrument can capture analog signals from DDI devices. With thses test instruments, it's possible to localize semiconductor test equipment and to lower the test costs.

목차 Contents

• 표지 ...1
• 제출문 ...2
• 요약서 ...3
• 목차 ...4
• 제1장 개발기술의 개요 ...5
• 제1절 반도체 테스트 장비 개요 ...5
• 제2절 시장규모, 개발기술의 중요성 및 기술개발현황 ...7
• 제2장 개발목표 및 개발내용 ...10
• 제1절 기술개발 목표 ...10
• 제2절 세부 계획 및 개발내용 ...11
• 제3장 성과요약 및 기대효과 ...41
• 제1절 성과요약 ...41
• 제2절 기대효과 및 성과활용 ...42