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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한라정밀엔지니어링 |
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보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2014-05 |
과제시작연도 | 2013 |
주관부처 | 중소기업청 Small and Medium Business Administration |
과제관리전문기관 | 한국산업기술평가관리원 Korea Evaluation Institute of Industrial Technology |
등록번호 | TRKO201500013201 |
과제고유번호 | 1425079227 |
사업명 | 기술혁신개발사업 |
DB 구축일자 | 2015-08-01 |
키워드 | 고온검사.검사장비.LED.LED Contact Test.LED Probe Board. |
□ 개발목표
계 획:
1.국내기술 200㎛ Contact 정밀도를 100㎛이하의 반복적인 Contact
2.Gripper 내에 Index Pin 삽입
3.LED Type 교체 시 편리한 Module 개념의 JIG 개발
4.프로그램 개발
5.Probe Controller 개발
6.검사 속도의 고속화
7.온도정밀도 180±3℃ 이내
실 적:
1.정밀도 100㎛ 이하의 영역에 반복적인 Contact 가능
2.Gripper 방식과 Index Pin방식의 혼용적용
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