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NTIS 바로가기주관연구기관 | (사)성우세미텍 |
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보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2012-01 |
과제시작연도 | 2011 |
주관부처 | 중소기업청 Small and Medium Business Administration |
등록번호 | TRKO201500017267 |
과제고유번호 | 1425070496 |
사업명 | 중소기업상용화기술개발지원 |
DB 구축일자 | 2015-11-10 |
키워드 | 고기능검사기.차세대 PCB검사기.PCB칼라검사기.Color Hybrid AFVI . |
□개발목표
계 획
1.검출 Min Size : 30um * 30um
2.SR불량 검출력 확보 및 SMD사양,0.3Pitch 제품 대응될 것
-.과검(20%이하) / 미검출(0.05%)
-.일반검사 : Metal, SR, SR 하지패턴, 백화, 미도금 등
3.표면처리 : Tin Ni, FR4, 2중 SR,Tin도금, OSP, ENEPIG등과 같은 표면처리에 대해 검사 가능한 알고리즘 개발 포함.
4.Tact Time : 5sec/scan, 6회 Scan 30초 이내 실현(기준80*240mm)
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