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NTIS 바로가기본 논문은 고속 메모리 테스트에 적합한 ALPG(Algorithmic Pattern Generator)를 제안하고 고속 메모리 중에서도 워드 지향 메모리 테스트에 효율적인 알고리즘에 대한 것이다. 반도체의 미세 공정 발달로 회로의 복잡도가 증가하고 용량이 늘어남에 따라 보다 다양하고 복잡한 고장을 잡아낼 수 있는 알고리즘이 요구되고 있다. ALPG는 VLIW(Very Long Instruction Word)명령어 메모리 구조를 기반으로 구현되었으며 VLIW는 ...
In this paper, we propose a ALPG(Algorithmic Pattern
Generator) suitable for High-Speed Memory Testing and discuss an efficient algorithm on Word-Oriented Memory. With the development of the semiconductor circuit, which has been increased circuit complexity and capacity, we need algorithms that ...
저자 | 이용재 |
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학위수여기관 | 광운대학교 대학원 |
학위구분 | 국내석사 |
학과 | 전자통신공학과 |
지도교수 | 정인영 |
발행연도 | 2016 |
총페이지 | viii, 39 p. |
언어 | kor |
원문 URL | http://www.riss.kr/link?id=T14058580&outLink=K |
정보원 | 한국교육학술정보원 |
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