최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기신뢰성응용연구 = Journal of the applied reliability, v.5 no.2 = no.10, 2005년, pp.261 - 272
이덕보 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 김정현 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 강수근 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 김상도 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 장석원 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 임재훈 (삼성전자 생활가전 총괄시스템 가전사업부 Global CS팀 냉장고 CS그룹) , 유동수 (삼성전자 생활가전 총괄시스템 가전사업부 Global CS팀 냉장고 CS그룹)
In evaluation of electronic reliability on the PCB(Printed Circuit Board), electrochemical migration is one of main test objects. The phenomenon of electrochemical migration occurs In the environment of the high humidity and the high temperature under bias through a continuous aqueous electrolyte. I...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.