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문제 정의
- 고장률이 가장 높아서 전체 시스템의 신뢰도에 가장 큰 영향을 주었다. 본 분석은 개발과정 중인 모델에 대해서 신속하게 제품 단위의 신뢰도를 파악하기 위해서 실시되었다. 이는 개발 과정 및 변경, 수정단계에서 모두 신속히 행해짐으로써 제품의 취약 부분에 대한 보완 및 예측을 할 수 있다.
- 본 연구에서는 가전 LCD 영상 제품의 개발 단계에서 신뢰도 예측을 함에 있어서 SR-332 규격을 통해 신속하게 전체 시스템의 신뢰도를 파악하고 각 요인들의 변화를 찾아보고자 한다.
- 실제 예측하고자 하는 System 또는 Unit에 대한 통계적 조정 역할을 하는데이터를 수집하여 예측하는 것이다. 여기서는 영상 제품 개발 단계에서 해당 모델의 신속한 예측이 관심의 대상이므로 사전 Burn-In과 필드 데이터가 없는 Method I Case3과 MethodD Case L2에 의한 방법으로 한다.
가설 설정
- (2) 구성 부품의 상태는 고장 및 작동 상태로만 구분한다.
- (3) 각 구성 Device, Unit, Systeme 직렬로 연결되어 있다.
- 주로 Method I 의 Case3을 사용하는 데 Casel과 2의 경우를 모두 포함하고 시료의 Burn-In 시간에 관계없이 System, Unit, Device 레벨 모두 적용할 수 있다. 각 부품의 기본 온도는 40 ℃이며 50 %의 전기적 스트레스를 가정한다.
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