$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

InP/InGaAs/InP 분포귀환형 회절격자 위에 성장된 InAs/InAlGaAs 양자점의 구조적.광학적 특성
Structural and Optical Characteristics of InAs/InAlGaAs Quantum Dots Grown on InP/InGaAs/InP Distributed Feedback Grating Structure 원문보기

韓國眞空學會誌 = Journal of the Korean Vacuum Society, v.15 no.3, 2006년, pp.294 - 300  

곽호상 (한국전자통신연구원 IT융합.부품연구소) ,  김진수 (한국전자통신연구원 IT융합.부품연구소) ,  이진홍 (한국전자통신연구원 IT융합.부품연구소) ,  홍성의 (한국전자통신연구원 IT융합.부품연구소) ,  최병석 (한국전자통신연구원 IT융합.부품연구소) ,  오대곤 (한국전자통신연구원 IT융합.부품연구소) ,  조용훈 (충북대학교 물리학과)

초록
AI-Helper 아이콘AI-Helper

금속유기화학증착기 (metal-organic chemical vapor deposition)를 이용하여 분포귀환형 (distributed feed back) InP/InGaAs/InP 회절격자 구조를 제작하고 원자력간현미경 (atomic force microscopy)과 주사전자현미경 (scanning electron microscopy) 실험을 통해 표면 및 단면을 분석하였다. 그 위에 분자선증착기(molecular beam epitaxy)법을 이용하여 자발형성 (self-assembled) InAs/InAlGaAs 양자점 (quantum dot)을 성장하고, 광학적 특성을 온도변화 광여기 발광 (photoluminescence)으로 회절격자 구조 없이 성장한 양자점 시료와 비교 분석하였다. 회절격자의 간격 대비 폭의 비가 약 30%인 InP/InGaAs/InP 회절격자가 제작되었으며, 그 위에 성장된 양자점의 경우 상온 파장이 1605 nm에서 PL이 관찰되었다. 이는 회절격자 없이 같은 조건에서 성장된 시료의 상온 파장인 1587 nm 보다 장파장에서 발광하였으며, 회절격자의 영향으로 양자점 크기가 변하였음을 조사하였다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

We fabricated the distributed feedback (DFB) InP/InGaAs/InP grating structures on InP (100) substrates by metal-organic chemical vapor deposition, and their structural properties were investigated by atomic force microscopy and scanning electron microscopy. Self-assembled InAs/InAlGaAs quantum dots ...

주제어

#분포귀환형   #양자점   #분자선증착기  

참고문헌 (16)

  1. H. Y. Liu, M. Hopkinson, C. N. Harrison, M. J. Steer, R. Frith, I. R. Sellers, D. J. Mowbray, and M. S. Skolnick, J. Appl. Phys. 93, 2931 (2003) 

    상세보기 crossref

  2. W. T. Tsang, F. S. Choa, M. C. Wu, Y. K. Chen, R. A. Logan, T. Tanbun-Ek, S. N. G. Chu, K. Tai, A. M. Sergent, and K. W. Wecht, Appl. Phys. Lett. 59, 2375 (1991) 

    상세보기 crossref

  3. Z. C. Niu, S. Y. Zhang, H. Q. Ni, D. H. Wu, H. Zhao, H. L. Peng, Y. Q. Xu, S. Y. Li, Z. H. He, Z. W. Ren. Q. Han, X. H. Yang, Y. Du, and R. H. Wu, Appl. Phys. Lett. 87, 231121 (2005) 

    상세보기 crossref

  4. M. Sugawara, Semiconductors and Semimetals, Vol. 60 (Academic Press, San Diego, 1999), Chap. 1 

  5. Y. Arakawa and H. Sakaki, Appl. Phys. Lett. 40, 939 (1982) 

    상세보기 crossref

  6. Jin Soo Kim, Jin Hong Lee, Sung Ui Hong, Ho-Sang Kwack, Chul Wook Lee, and Dae Kon Oh, ETRI J. 26, 475 (2004) 

    원문보기 상세보기 crossref

  7. M. Kuntz, G. Fiol, M. Lammlin, D. Bimberg, M. G. Thompson, K. T. Tan, C. Marinelli, R. V. Penty, H. White, V. M Ustinov, A. E. Zhukov, Yu. M. Shernyakov, and A. R. Kovsh, Appl. Phys. Lett. 85, 843 (2004) 

    상세보기 crossref

  8. J. S. Kim, J. H. Lee, S. U. Hong, H.-S. Kwack, B. S. Choi, and D. K. Oh, IEEE Photon. Tech. Lett. 18, 595 (2006) 

    상세보기 crossref

  9. H. Konig, S. Rennon, J. P. Reithmaier, A. Forchel, J. L. Gentner, and L. Goldstein, Appl. Phys. Lett. 75, 1491 (1999) 

    상세보기 crossref

  10. L. D. Westbrook, I. D. Henning, A. W. Nelson, and P. J. Fiddyment, IEEE J. Quantum Electron. 21, 612 (1985) 

  11. J. C. Cartledge and A. F. Elrefaie, IEEE J. Lightwave Technol. 8, 704 (1990) 

    상세보기 crossref

  12. J. S. Kim, J. H. Lee, S. U. Hong, H.-S. Kwack, C. W. Lee, and D. K. Oh, Appl. Phys. Lett. 85, 1033 (2004) 

    상세보기 crossref

  13. J. S. Kim, J. H. Lee, S. U. Hong, H.-S. Kwack, C. W. Lee, and D. K. Oh, IEEE Photon. Tech. Lett. 16, 1607 (2004) 

    상세보기 crossref

  14. R. H. Wang, A. Stintz, P. M. Varangis, T. C. Newell, H. Li, K. J. Malloy, and L. F. Lester, IEEE Photonics Technol. Lett. 13, 767 (2001) 

    상세보기 crossref

  15. L. V. Asryan, M. Grundmann, N. N. Ledentsov, O. Stier, R. A. Suris, and D. Bimberg, J. Appl. Phys. 90, 1666 (2001) 

    상세보기 crossref

  16. Y. H. CHo, B. J. Kwon, J. Barjon, J. Brault, B. Daudin, H. Mariette, and Le Si Dang, Appl. Phys. Lett. 81, 4934 (2002) 

    상세보기 crossref

저자의 다른 논문 :

관련 콘텐츠

이 논문과 함께 이용한 콘텐츠

저작권 관리 안내
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로