Bench-Top ED-XRF 및 휴대용 XRF를 이용한 토양 시료 중의 중금속 비교 분석 Comparison of the Heavy Metal Analysis in Soil Samples by Bench-Top ED-XRF and Field-Portable XRF원문보기
휴대용 형광 분석기의 개발을 위한 사전 기초연구로서 bench-top ED-XRF 및 휴대용 XRF를 이용하여 토양 시료 중의 Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd 등 6종의 유해금속 성분들을 비교 분석하였다. 유해금속 원소를 0~1500 mg/kg 농도 범위로 오염시킨 토양 인증표준물질을 구입하여 XRF 분석의 중요 인자인 X-선 튜브 전압 및 측정 시간 등에 따른 최적 분석조건을 확립하고, 각각의 유해 중금속에 대한 검량선을 작성하였다. 유해금속 원소가 포함된 토양 인증표준물질 외에 7종의 다른 토양 시료 중의 유해금속 원소에 대해서도 empirical 법 및 fundamental parameter 법으로 정량분석하고 그 결과를 비교 분석하였다.
휴대용 형광 분석기의 개발을 위한 사전 기초연구로서 bench-top ED-XRF 및 휴대용 XRF를 이용하여 토양 시료 중의 Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd 등 6종의 유해금속 성분들을 비교 분석하였다. 유해금속 원소를 0~1500 mg/kg 농도 범위로 오염시킨 토양 인증표준물질을 구입하여 XRF 분석의 중요 인자인 X-선 튜브 전압 및 측정 시간 등에 따른 최적 분석조건을 확립하고, 각각의 유해 중금속에 대한 검량선을 작성하였다. 유해금속 원소가 포함된 토양 인증표준물질 외에 7종의 다른 토양 시료 중의 유해금속 원소에 대해서도 empirical 법 및 fundamental parameter 법으로 정량분석하고 그 결과를 비교 분석하였다.
As a basic research for development of the domestic field-portable XRF spectrometer, we discussed the analytical results of bench-top ED-XRF and field-portable XRF method for polluted heavy metals such as Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd in soil samples. To obtain the best performance of the XRF spectrometer,...
As a basic research for development of the domestic field-portable XRF spectrometer, we discussed the analytical results of bench-top ED-XRF and field-portable XRF method for polluted heavy metals such as Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd in soil samples. To obtain the best performance of the XRF spectrometer, the instrumental parameters of X-ray tube-voltage and measurement time were optimized for 6 heavy-metal elements in soil using certified reference material. The quantitative analysis of Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd concentration in certified reference materials and soil samples were compared by empirical method and fundamental parameter method.
As a basic research for development of the domestic field-portable XRF spectrometer, we discussed the analytical results of bench-top ED-XRF and field-portable XRF method for polluted heavy metals such as Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd in soil samples. To obtain the best performance of the XRF spectrometer, the instrumental parameters of X-ray tube-voltage and measurement time were optimized for 6 heavy-metal elements in soil using certified reference material. The quantitative analysis of Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd concentration in certified reference materials and soil samples were compared by empirical method and fundamental parameter method.
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문제 정의
이에 따라 현장(on-site)에서 이동하면서 실시간 분석이 가능한 휴대용 X-선 형광 측정기 시장의 규모가 증가되고 있는 추세이나广 대부분의 분석 장비와 마찬가지로 100% 수입에 의존하고 있으므로 향후 시장의 확대 가능성을 고려하였을 때 국산화가 시급한 실정이다. 따라서 본 연구에서는 국산 휴대용 X- 선 형광 측정 장비의 개발을 위한 기초연구로서 토양 중의 중금속을 bench-top ED-XRF 및 휴대용 XRF를 이용하여 empirical (EM) 법 및 fundamental parameter (FP) 법으로 정 량 분석하고 그 결과를 상호 비교하였다.
제안 방법
Soil 모드에서 측정 가능한 원소는 S, K, Ca, Sc, Ti, Y Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Te, Cs, Ba, W, Hg, Pb, Th, U의 총 32 원소이다. Soil 모드는 main, low, high 등 3개의 필터를 15초 간격으로 자동으로 바꾸면서 45초간 측정 되므로 측정시간을 45초, 90초, 135초, 180초, 225초 등으로 변화시켜가면서 측정하여 최적의 분석조건을 정립하였다. 측정 시간에 따른 각 원소의 농도별 D 백분율은 Fig.
ED-XRF와 동일한 방법으로 측정하였다. Soil 모드는 main, low, high 등 3개의 필터를 15초 간격으로 자동으로 바꾸면서 시료당 최소한 45초간 측정 되므로 측정시간을 변화시켜 가면서 최적의 분석조건을 정립하였다. 정립한 최적의 분석조건에서 토양 시료 및 CRM을 분석하여 bench-top 결과와 상호 비교 하였다.
X-선 형광분석용 시료 컵에 토양 인증표준물질 (JSAC 0461-0466) 또는 토양 시료를 가득 채워 넣고 bench-top ED-XRF의 EM 법 및 FP 법으로 대기 상태에서 최소한 6회 이상 반복 측정하여 분석하였다. 먼저 Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd 등 6종의 원소에 대한 XRF의 최적 분석조건을 정 립하기 위하여 Table 2와 같이 측정 전압 및 측정 시간 등의 파라메터를 변화 시켜 가면서 측정하였다.
그러나 실제 토양은 SiO2, AI2O3, Fe2O3, MgO, K2O, CaO 등으로 이루어져 있으며, 이 외에 다른 원소들이 있더라도 산소와 결합한 형태로 존재한다. 따라서 EDS로 분석한 토양시료의 원소분석 결과를 참고하여 측정된 데이터에 O의 함량을 임의로 넣어주고 각 원소들의 함량을 보정, 계산하였다. Table 3 에서 보는 바와 같이 FP 법에 의한 각 시료 중의 금속원소의 측정값들은 EM 법 및 휴대용 XRF 법의 측정값과 유사한 경향을 나타내나 상대표준편차가 10% 전후로 큼을 알 수 있다.
즉, Table 2와 같이 Cr 분석은 A1 필터를 사용하고 11-13 kV에서 측정하며, As, Se, Hg, Pb는 Pd thick 필터 및 26~35 k¥ Cd는 Cu thick 필터 및 45-50 kV 이다. 따라서 EM 법에 의한 토양 중의 중금속 함량의 최적 분석조건을 정 립하기 위하여 6종의 중금속이 각각 0-1500 ㎎/㎏ 농도로 포함되어 있는 인증표준물질 JSAC 0461~0466을 사용하여 측정 전압 및 측정 시간을 변화시켜가면서 분석하였다. 측정 전압 및 측정 시간에 따른 각 원소의 인증값과 측정값 차이 (D)의 백분율을 비교한 결과는 각각 Fig.
따라서 휴대용 XRF의 시료 측정시간을 135초로 설정하고 토양시료 중의 금속원소들을 측정하였으며, 측정 된 32종의 원소들 중 Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd 등 6 종의 원소만을 분석하여 bench-top의 EM 법 및 FP 법과 비교하고자 Table 3에 나타내었다. 휴대용 XRF 에 의한 각 원소의 측정값은 EM 법에 의한 측정값 및 상대표준편차와 전체적으로 유사함을 알 수 있으나, Cr 측정값이 상당히 높게 나타나므로 실제 토양을 휴대용 XRF로 분석 할 경우에는 이를 고려하여야 할 것이다.
먼저 Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd 등 6종의 원소에 대한 XRF의 최적 분석조건을 정 립하기 위하여 Table 2와 같이 측정 전압 및 측정 시간 등의 파라메터를 변화 시켜 가면서 측정하였다. 정립한 최적의 분석조건에서 각각 금속농도가 서로 다른 6종의 토양 CRM을 사용하여 검량선을 작성하였으며, 토양 시료 및 CRM을 분석하여 상호 비교하였다.
본 연구에 사용된 bench-top ED-XRF는 필터의 종류 및 사용 유무에 따라 Table 1과 같이 8가지 측정조건이 있으며, 분석하는 시료 및 원소에 따라 filter, 전압, 전류, 분위기 등이 각각 다르다. 즉, Table 2와 같이 Cr 분석은 A1 필터를 사용하고 11-13 kV에서 측정하며, As, Se, Hg, Pb는 Pd thick 필터 및 26~35 k¥ Cd는 Cu thick 필터 및 45-50 kV 이다.
먼저 Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd 등 6종의 원소에 대한 XRF의 최적 분석조건을 정 립하기 위하여 Table 2와 같이 측정 전압 및 측정 시간 등의 파라메터를 변화 시켜 가면서 측정하였다. 정립한 최적의 분석조건에서 각각 금속농도가 서로 다른 6종의 토양 CRM을 사용하여 검량선을 작성하였으며, 토양 시료 및 CRM을 분석하여 상호 비교하였다.
대상 데이터
자동으로 조절 된다. Soil 모드에서 측정 가능한 원소는 S, K, Ca, Sc, Ti, Y Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Te, Cs, Ba, W, Hg, Pb, Th, U의 총 32 원소이다. Soil 모드는 main, low, high 등 3개의 필터를 15초 간격으로 자동으로 바꾸면서 45초간 측정 되므로 측정시간을 45초, 90초, 135초, 180초, 225초 등으로 변화시켜가면서 측정하여 최적의 분석조건을 정립하였다.
사용하였다. 여러가지 금속이 서로 다른 농도로 포함되어 있는 토양 시료로는 미국 RTC 사에서 구입한 CRM-025, CRM-027, CRM-042, CRM-051 soil, CRM-044 chalky loam, CLN-3 및 CLN-5 clean clay 등을 측정 시료로 사용하였다.
토양 시료 중의 중금속 분석을 위한 검량선 작성에는 Ct, As, Se, Hg, Pb, Cd 등 6종의 유해금속 원소를 0-1500 ㎎/㎏ 농도 범위로 오염시킨 6종의 인증표준 물질(JSAC-O461, 0462, 0463, 0464, 0465, 0466 polluted soil, brown forest soil)을 일본 분석화학회에서 구입하여 사용하였다. 여러가지 금속이 서로 다른 농도로 포함되어 있는 토양 시료로는 미국 RTC 사에서 구입한 CRM-025, CRM-027, CRM-042, CRM-051 soil, CRM-044 chalky loam, CLN-3 및 CLN-5 clean clay 등을 측정 시료로 사용하였다.
데이터처리
9999로서 우수한 상관관계를 나타내고 있다. 본 검량선을 이용하여 분석한 측정값 즉, EM 법에 의한 토양 시료 중의 각 원소의 측정값을 인증값과 함께 Table 3에 기록하고, FP 법 및 휴대용 XRF 법에 의한 측정값들과 상호 비교하였다. 토양 시료에는 6가지 원소들 외에 다른 원소들도 많이 포함되어 있으나 인증표준 물질의 인증값과 비교하기 위해서 Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd 등 6가지 원소에 대해서만 나타내었다.
Soil 모드는 main, low, high 등 3개의 필터를 15초 간격으로 자동으로 바꾸면서 시료당 최소한 45초간 측정 되므로 측정시간을 변화시켜 가면서 최적의 분석조건을 정립하였다. 정립한 최적의 분석조건에서 토양 시료 및 CRM을 분석하여 bench-top 결과와 상호 비교 하였다.
이론/모형
인증표준물질(CRM, Certified Reference Material) 및 시료 분석을 위해 사용한 bench-top ED-XRF는미국 Thermo 사의 ARL QUANT'X 모델을 사용하였으며, 휴대용 XRF는 미국 Thermo-NITON 사의 XL3t 모델로서 각 기기의 분석조건은 Table 1과 같다. 휴대용 XRF의 측정 모드는 soil, plastic 및 alloy 모드로 구성되어져 있으며, 각 모드 마다 다른 알고리즘을 사용하고 측정 가능 원소도 다르다.
성능/효과
토양 시료에는 6가지 원소들 외에 다른 원소들도 많이 포함되어 있으나 인증표준 물질의 인증값과 비교하기 위해서 Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd 등 6가지 원소에 대해서만 나타내었다. JSAC 시료는 매트릭스가 동일한 JSAC 인증표준물질로 작성된 검량선을 이용하기 때문에 6개 원소의 거의 모든 농도 범위에서 인증값에 근접한 측정값과 Hg를 제외한 5개 원소에서 3.8% 이하의 상대표준편차를 나타냈다. Blank 토양으로 구입한 CLN-3과 CLN-5 시료는 6개 원소의 함량이 극미량이어서 모든 X-선 형광분석기로 검출 및 분석하기에 적합하지 않았다.
본 연구에서 정립한 XRF의 최적 분석조건에서 측정 한 13종의 토양 시료에서 Cr, As, Se, Hg, Pb, Cd 등 6종의 유해금속 원소의 함량은 bench-top ED-XRF 의 EM 방법 및 휴대용 XRF의 soil 모드에 의한 방법이 유사한 결과를 나타냈으나, bench-top ED-XRF의 FP 방법은 측정값과 인증값이 약간 차이가 있는 결과를 보여 주므로 특히, 시료에 대한 매트릭스 등의 정보를 고려하여야 한다. 각 원소의 농도 인증값이 20 ppm 이하인 시료의 경우 3가지 분석방법 모두 측정값의 상대표준편차가 상당히 높음을 알 수 있다.
2에서 보는 바와 같이 인증표준물질 JSAC- 0461을 제외하면 시간에 따라 감소하는 경향을 알 수 있다. 즉, Hg를 제외한 각 금속 원소의 함량이 낮은 인증표준 물질 JSAC-O461 ~0463에서는 200초 이상에서 D 백분율이 10% 이하이나, 각 금속 원소의 함량이 높은 인증표준물질 JSAC-0465, 0466은 100초 이상에서 D 백분율이 10% 이하로 큰 차이를 나타내지 않았다. 따라서 토양 시료의 경우 200초 이상의 측정 시간이 필요함을 알 수 있었다.
측정 전압을 1 kV 씩 변화 하면서 측정한 각 원소의 농도별 D 백분율은 Fig. 1에서 보는 바와 같이 인증표준 물질 JSAC-O461 을 제외하면 모든 전압에서 큰 차이를 보이지 않으며, 낮은 농도에서 높은 농도로 갈수록 모든 원소의 D 백분율이 감소함을 알 수 있다. 즉, Cre 12 kV에서, Cd는 50 kV에서 가장 낮은 D 백분율을 나타내었다.
후속연구
특히, 표준물질을 사용하지 않았음에도 휴대용 XRF의 soil 모드는 토양에 대한 여러가지 함수를 적용한 알고리즘을 이용하여 토양 인증표준물질의 인증값과 유사한 측정값을 얻은 것으로 사료된다. 따라서 국산 휴대용 형광분석기의 개발이라는 본 사업의 최종 목표를 달성하기 위해서는 앞으로 알고리즘에 대한 이해 및 연구가 수행되어져 야 할 것으로 사료된다.
비교하고자 Table 3에 나타내었다. 휴대용 XRF 에 의한 각 원소의 측정값은 EM 법에 의한 측정값 및 상대표준편차와 전체적으로 유사함을 알 수 있으나, Cr 측정값이 상당히 높게 나타나므로 실제 토양을 휴대용 XRF로 분석 할 경우에는 이를 고려하여야 할 것이다.
참고문헌 (11)
T. Sferckeman, A. Gomezb and H. Ciesielski, Sci. Total Environ., 178, 63-69(1996)
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