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NTIS 바로가기마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.16 no.1, 2009년, pp.1 - 6
윤민승 (삼성전자)
초록이 없습니다.
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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Moore의 법칙이란 무엇인가? | ‘새로이 개발되는 메모리 칩의 능력은 18~24개월에 약 2배가 된다.’라는 Moore의 법칙은 수십년간 반도체 기술 개발 진화에 적용되었다. | |
TSV의 주요 기술은 무엇으로 구분할 수 있는가? | TSV의 주요 기술은 크게 4가지로 (Via 형성, Via Filling, Thinning, Bonding) 구분할 수 있다.3) (그림 4) | |
미세화 공정을 통한 Chip 성능 향상의 한계점이 드러나고 있는데 큰 2가지 이유는 무엇인가? | 하지만, 미세화 공정을 통한 Chip 성능 향상은 한계점이 드러나고 있는데, 그것은 크게 2가지 이유로 나눌 수 있다. 하나는 극미세화 공정을 위해서는 점점 더 고성능의 노광 설비가 필요하게 되고, 이는 거대한 설비 투자를 바탕으로 하여 제조 원가의 극단적인 상승을 가져오게 된다. 또한 수십 nm 이하의 미세 패턴은 물리적 한계까지의 노광 설비를 요구하기에 더 이상 극미세화 공정을 칩 성능 향상시키는 효과는 둔화되고 있다. 또 다른 한가지 이유는 성능 향상을 위해 미세 Cell의 개수가 증가함에 따라 Cell을 서로 연결해주는 배선 길이가 증가하게 되고, 이는 길어진 배선에서 신호 지연이 발생하여 칩 성능 향상에 대한 효과가 떨어지게 된다. Cell 미세화를 통한 칩 성능 향상에 대한 한계점을 극복하기 위한 대안으로서 제기된 것이 Through Si Via (TSV) 기술을 이용한 Chip 적층이다. |
S. F. Al-sarawi, D. Abbott, and P. D. Franzon : IEEE Transactions
Nikkei Electronics, (2007. 1. 15).
2007 3D IC Yole report, Yole development, Fr., (2007).
2008 3D TSV Interconnects Yole report, Yole development,
전자신문, 2006년 4월 14일.
중앙일보, 2007년 4월 23일.
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