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3D 모듈 패키징을 위한 공정 및 신뢰성 기술에 관한 연구
A Study on Process and Reliability Technologies for 3D Module Packaging 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 성균관대학교
SungKyunKwan University
연구책임자 정승부
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2010-08
과제시작연도 2009
주관부처 교육과학기술부
사업 관리 기관 한국연구재단
등록번호 TRKO201000014331
과제고유번호 1345099905
DB 구축일자 2013-04-18
키워드 고밀도 3차원 패키징,RF 모듈 패키징,플립칩,전도성 접착제,전해도금,초음파 접합,유한요소해석,고 신뢰성High-density 3D packaging,RF module packaging,S-parameter,Flip chip,Conductive adhesive,Cu electroplating,Ultrasonic bonding,Finite element analysis,High reliability

초록

급속히 발달하는 반도체 패키징 기술은 종래의 평면적인 2차원 실장으로부터 부품간의 배선길이를 단축해 실장부품의 면적효율을 극대화하는 3차원 적층 (3D stacked) 실장으로 발전하였다. 3차원 적층형 전자 회로장치는 칩 기능이 다양하고 복잡해짐에도 불구하고 더욱 빠르고 값싼 고밀도 시스템을 개발하는 쪽으로 기술이 진화하고 있다. 따라서 본 과제에서는 3D 모듈 패키지의 공정 및 신뢰성 기술 개발을 목표로 TSV 기술을 이용한 3차원 적층 공정 전반에 대한 연구를 수행하였으며, 비아홀의 Cu 충진기술 및 충전된 비아 홀의 신뢰성

Abstract

Semiconductor packaging technology has rapidly developed from existing 2-D packaging to 3-D stacked packaging for optimizing the efficiency by reducing the circuit length. Although the function of chips get more complex and multi-functional, 3-D stacked electronic devices have been rapidly progresse

목차 Contents

  • 중견연구자지원사업(핵심연구) 최종보고서(평가용) ...1
  • 목차 ...2
  • I. 연구계획 요약문 ...3
  • 1. 국문요약문 ...3
  • II. 연구결과 요약문 ...4
  • 1. 국문요약문 ...4
  • 2. 영문요약문 ...5
  • III. 연구내용 및 결과 ...6
  • 1. 연구개발과제의 개요 ...6
  • 2. 국내외 기술개발 현황 ...11
  • 3. 연구수행 내용 및 결과 ...15
  • 4. 목표달성도 및 관련분야에의 기여도 ...83
  • 5. 연구결과의 활용계획 ...87
  • 6. 연구과정에서 수집한 해외과학기술정보 ...90
  • 7. 주관연구책임자(공동연구원) 대표적 연구실적 ...91
  • 8. 참고문헌 ...92
  • 9. 연구성과 ...96
  • 10. 기타사항 ...99

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참고문헌 (25)

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