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NTIS 바로가기Transactions on electrical and electronic materials, v.11 no.5, 2010년, pp.202 - 205
Yang, Xeng (School of Electrical and Electronics Engineering, Chung-Ang University) , Woo, Jong-Chang (School of Electrical and Electronics Engineering, Chung-Ang University) , Um, Doo-Seung (School of Electrical and Electronics Engineering, Chung-Ang University) , Kim, Chang-Il (School of Electrical and Electronics Engineering, Chung-Ang University)
In this study, the etch properties of
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