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나노크기 실리카를 사용한 반도체용 액상 에폭시 수지 성형재료의 흡습성질
Moisture Absorption Properties of Liquid Type Epoxy Encapsulant with Nano-size Silica for Semiconductor Packaging Materials 원문보기

반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.9 no.2, 2010년, pp.33 - 39  

김환건 (서경대학교 화학생명공학부)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The moisture absorption properties such as diffusion coefficient and moisture content ratio of liquid type epoxy resin systems with the filler were investigated. Bisphenol A type and Bisphenol F type epoxy resin, Kayahard MCD as hardener and 2-methylimidazole as catalyst were used in these epoxy res...

주제어

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문제 정의

  • 일반적으로 입자의 크기가 작을수록 비표면적이 증가하여 충전재의 함량을 증가시키기 어렵다. 본 실험에서는 시편이 잘 제조될 수 있는 적정 충전재의 함량의 범위 내에서 실험을 진행하였다. 평균입도 99 nm의 UFP-30의 경우 충전재의 함량이 60wt%까지 제조가 가능하였으나, 평균입도 34 nm의 UFP-80의 경우 40 wt% 이상에서는 시편제조가 불가능하여 실리카 함량 40 wt% 만을 비교하였다.
  • 본 연구에서는 이러한 충전재가 에폭시 수지 성형재료의 내열, 내습 특성에 어떠한 영향을 미치는지를 조사하였다. 특히 충전재의 입자 크기에 따른 내열 및 내습 특성의 영향을 조사하였다.
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핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
무납 리플로우 솔더링 방식이 기존 공정보다 고온에서 이루어짐으로 인해 무엇이 필요한가? Package형태가 다양화함에 따라 Package대응이 용이한 액상 에폭시 수지성형재료의 수요가 신규 Package분야에서 증가하고 있다. 그러나 현재 사용되고 있는 무납 리플로우 솔더링 방식은 기존 공정보다 고온에서 이루어지기 때문에 내열성이 우수하고 내습 특성이 향상된 패키지 재료를 요구하고 있다. 특히 본 공정에서의 가장 큰 문제는 패키지 자체가 직접 열에 접촉이 되기 때문에 반도체 소자 내부에 침투한 수분의 증기압에 의한 팝콘균열이라고 불리는 패키지 균열이다.
무납 리플로우 솔더링 방식의 문제점은? 그러나 현재 사용되고 있는 무납 리플로우 솔더링 방식은 기존 공정보다 고온에서 이루어지기 때문에 내열성이 우수하고 내습 특성이 향상된 패키지 재료를 요구하고 있다. 특히 본 공정에서의 가장 큰 문제는 패키지 자체가 직접 열에 접촉이 되기 때문에 반도체 소자 내부에 침투한 수분의 증기압에 의한 팝콘균열이라고 불리는 패키지 균열이다. 또한 패키지 내부로 침투한 수분은 패키지 재료의 연성화와 접착력의 감소를 유발하여 Solder Bump 또는 Wire Bond와 박리현상이 나타나 반도체 패키지의 신뢰성 저하를 초래하고 있다. 이와 같이 무납 솔더링 방식의 도입과 반도체 소자의 박형화 추세에 따라 CSP와 같은 반도체 소자의 패키지 소재에는 기존의 재료에 비해 더 높은 수준의 내열성과 내습특성을 요구하고 있다[3-5].
Package에서 각종의 실장 및 성형방식에 대응하기 위하여 무엇이 사용되고 있는가? 최근 반도체 실장의 고밀도화, 박형화, 고속화, 시스템화, 저가격화 등에 대응하기 위하여 각종 CSP(Chip Scale Package), 복수의 Chip을 하나의 Package에 평면 혹은 입체적으로 쌓아 넣은 Multichip Package, 적층 Package등이 개발되고 있다. 이러한 Package에서 각종의 실장 및 성형방식에 대응하기 위하여 COB(Chip on Board) 또는 TAB(Tape Automated Bonding)기술을 사용한 TCP(Tape Carrier Package)의 코팅재료 및 Underfill재료등에 액상 에폭시 수지성형재료가 사용되고 있다[1,2]. Package형태가 다양화함에 따라 Package대응이 용이한 액상 에폭시 수지성형재료의 수요가 신규 Package분야에서 증가하고 있다.
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참고문헌 (15)

  1. Manzione, L.T., "Plastic Packaging of Microelectronics Devices," Van Nostrand Reinhold: New York, U.S.A., 1990. 

  2. Ogata, M., "Technical Trends in Liquid Encapsulant for Semiconductor Devices", Hitachi Chemical Technical Report, Vol. 39, pp.7-12, 2002. 

  3. Yoon, H.G. and Kim, W.G., "Polymer for Electronics", Moonundang, 2001. 

  4. Rabindra, N., "Green Nanocomposites for Electronic Packaging", Electronic Components and Technology Conference, pp.793-800, 2009. 

  5. Kim, W.G. and Nam, T.Y., "Curing Characteristics of o-Cresol Novolac Epoxy Resin Modified by Bismaleimide", J. Polym. Sci. Part A, Polym. Chem., Vol. 34, pp.957-962. 1996. 

  6. Kim, W.G. and Ryu, J. H., "Physical Properties of Epoxy Molding Compound for Semiconductor Encapsulation According to the Coupling Treatment Process Change of Silica", J. Appl. Polym. Sci., Vol. 65, pp.1975-1982, 1997. 

  7. Kim, W.G. and Ryu, J.H., "The Change of Physical Properties of Epoxy Molding Compound According to the Change of Softening Point of o-Cresol Novolac Epoxy Resin", J. Korean Chem. Soc., Vol. 40(1), pp.81-86, 1996. 

  8. Ryu, J. H., Choi, K.S., and Kim, W.G., "Latent catalyst Effects in Halogen-Free Epoxy Molding Compounds for Semiconductor Encapsulation", J. Appl. Polym. Sci., Vol. 96, pp.2287-2299, 2005. 

  9. Kim, W.G., "Cure Properties of Self-Extinghishing Epoxy Resin Systems with Microencapsulated Latent Catalysts for Halogen-Free Semiconductor Packaging materials", J. Appl. Polym. Sci., Vol. 113, pp.408-417, 2009. 

  10. Crank, J.; "the Mathematics of Diffusion 2nd Ed.", Oxford University Press: N.J., U.S.A., 1975. 

  11. Bastioli, C., and Romano, G., "Water sorption and mechanical properties of acrylic based composites", J. Materials Sci., Vol. 22, pp.4207-4214, 1987. 

  12. Vrentas, J.S., Duda, J.L., and Ling, H.C., "Antiplasticization and Volumetric Behavior in Glassy Polymers", Macromolecules, Vol.21, pp.1470-1475. 1988. 

  13. Vrentas, J.S. and Vrentas, C.M., "Volumetric Behavior of Glassy Polymer-Penetrant Systems", Macromolecules, Vol.22, pp.2264-2266. 1989. 

  14. Braun, T., Hausel, F., Bauer, J., Wittier, O., Mrossko, R., Bouazza, M., Becker, K.-F., Oestermann, U., Koch, M., Bader, V., Minge, C., Aschenbrenner, R., and Reichl, H., "Nano-Particle Enhanced Encapsulants for Improved Humidity Resistance", Electronic Components and Technology Conference, pp.198-206, 2008. 

  15. Asaad, J., Gomaa, E., and Bishay, I.K., "Free-volume properties of epoxy composites and its relation to macrostructure properties", Materials Science and Engineering A, Vol. 490, pp.151-156, 2008. 

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