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차세대 반도체용 유-무기 나노 복합재료의 에폭시 수지변화에 따른 흡습특성
Moisture Absorption Properties of Organic-Inorganic Nano Composites According to the Change of Epoxy Resins for Next Generation Semiconductor Packaging Materials 원문보기

반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.12 no.1, 2013년, pp.23 - 28  

김환건 (서경대학교 화학생명공학과) ,  김동민 (서경대학교 화학생명공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Epoxy resins are widely used in microelectronics packaging such as printed circuit board and encapsulating for semiconductor manufacturing. Water can diffuse into and through the epoxy matrix systems and moisture absorption at boarding interfaces of matrix resin systems can lead to a hydrolysis at t...

주제어

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문제 정의

  • 본 연구에서는 이러한 충전제가 에폭시 수지성형재료의 내습특성에 어떠한 영향을 미치는지를조사하였다. 본 실험에서는 구형의 나노크기의 실리카를 충전제로 사용하여 유·무기 나노 복합재료를 제조하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
반도체 실장형태의 다양화 및 소량 다품종 생산에 대응하기 위해 액상 형태의 반도체용 성형재료를 어떤 목적으로 사용하고 있는가? 최근 반도체 실장형태의 다양화 및 소량 다품종 생산에 대응하기 위하여 액상 형태의 반도체용 성형재료가 IC Module, Hybrid IC, IC카드등에 탑재된 COB(Chip on Board)의 회로 형성면 및 접합부의 보호를 목적으로 사용되어 왔다. 최근에는 COB기술을 응용한 신규 Package의 적용범위가 확대되어 용도에 따라 다양한 액상용 성형재료가 개발되고 있다.
고온에서 이뤄지는 무납 리플로우 솔더링 방식의 가장 큰 문제점은? 그러나 현재 사용되고 있는 무납 리플로우 솔더링 방식은 기존의 공정보다 고온에서 이루어지기 때문에 내열성이 우수하고 내습 특성이 향상된 Package 재료를 요구하고 있다. 특히 본 공정에서의 가장 큰 문제는 Package 자체가 직접 열에 접촉이 되기 때문에 반도체 소자 내부에 침투한 수분의 증기압에 의한 팝콘균열이라고 불리는 Package Crack이다. 또한 Package 내부로 침투한 수분은 Package재료의 연성화와 접착력의 감소를 유발하여 Solder Bump 또는 Wire Bond와 박리현상이 나타나 반도체 Package의 신뢰성 저하를 초래하고 있다.
어떤 기술에 적합한 액상용 성형재료의 개발이 요구되고 있는가? 최근에는 COB기술을 응용한 신규 Package의 적용범위가 확대되어 용도에 따라 다양한 액상용 성형재료가 개발되고 있다. 특히 TAB(Tape Automated Bonding)기술 및 Flip Chip 실장방식을 이용한 각종 CSP(Chip Scale Package), 복수의 소자를 단일 Package 에 탑재하는 SIP(System in Package), MCP(Multi-Chip Package), MCM(Multi-Chip Module) 및 WL-CSP(Wafer Level Chip Scale Package)에 적합한 액상용 성형재료의 개발이 요구되고 있다[1,2]. 그러나 현재 사용되고 있는 무납 리플로우 솔더링 방식은 기존의 공정보다 고온에서 이루어지기 때문에 내열성이 우수하고 내습 특성이 향상된 Package 재료를 요구하고 있다.
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참고문헌 (10)

  1. Manzione, L.T., "Plastic Packaging of Mcroelectronics Devices," Van Nostrand Reinhold: New York, U.S.A., 1990. 

  2. Yoon, H.G. and Kim, W.G., "Polymers for Elctronics", Moonundang, 2001. 

  3. Kim, W.G. and Nam T.Y., "Curing Characteristics of o- Cresol Novolac Epoxy Resin Modified by Bismaleimide", J.Polym.Sci.Part A, Polym.Chem., Vol.34, pp.957-962.1996. 

  4. Ryu, J. H., Choi, K.S., and Kim, W.G., "Latent catalyst Effects in Halogen-Free Epoxy Molding Compounds for Semiconductor Encapsulation", J.Appl.Polym.Sci., Vol.96, pp.2287-2299, 2005 

  5. Kim, W.G. and Ryu, J. H., "physical Properties of Epoxy Molding Compound for Semiconductor Encapsulation According to the Coupling Treatment Process Change of Silica", J. Appl. Polym. Sci., Vol.65, pp.1975-1982, 1997. 

  6. Kim. W.G.. "Moisture Absorption Properties of Liquid Type Epoxy Encapsulant with Nano-size Silica for semiconductor Packaging Materials", J. Semiconductor & Display Technology, Vol. 9, pp.33- 39. 2010. 

  7. Crank, J.; "the Mathematics of Diffusion 2 Ed.", Oxford University Press: N.J., U.S.A., 1975. 

  8. Bastioli, C., and Romano, G., "Water Sorption and Mechanical Properties of Acrylic Based Composites", J. Materials Sci., Vol. 22, pp.4207-4214, 1987. 

  9. Kim. W.G.. "The Moisture Absorption Properties of Liquid Type Epoxy Molding Compound for Chip Scale Package According to the Change of Fillers", J. Korean Chem. Soc., Vol. 54, pp.594-602. 2010. 

  10. Asaad, J., Gomaa, E., and Bishay, I.K., "Free-volume Properties of Epoxy Composites and its Relation to Macrostructure Properties", Materials Science and Engineering A, Vol. 490, pp.151-156, 2008. 

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