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NTIS 바로가기반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.10 no.4, 2011년, pp.139 - 144
이수연 (한국기술교육대학교 대학원 메카트로닉스 공학과) , 김광선 (한국기술교육대학교 대학원 메카트로닉스 공학과)
CMP process is an essential element in the semiconductor product processes in Chemical Mechanical Polishing. Taken as a whole, CMP is one process, but concretely, it is a detail process which consists of polishing, cleaning, and so on. Especially, the polishing and cleaning are key points in the who...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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폴리싱이란? | 본 연구에서 다루는 CMP 장비 관련 산업 분야에서도 효과적인 평탄화 작업 (polishing : 이하 폴리싱)이나 세정을 위한 연구가 이루어지고 있다[1]. 폴리싱은 세정을 하기에 앞서, 슬러리(slurry)를 웨이퍼(wafer)에 도포하여 연마하는 공정인데, 폴리싱에서 가장 중요한 인자는 웨이퍼의 연마 율이다. 웨이퍼 전체에 연마율이 균일하게 분포할수록 폴리싱이 잘 되었다고 할 수 있고, 이는 슬러리 도포 와도 깊은 관련이 있다. | |
효과적인 세정을 위해서는 어떠한 것이 필요한가? | 그런데, 본 연구에서 다루는 모델의 세정 노즐은 매니폴드 (manifold)방식으로써 설계 방법에 따라 노즐 출구 속도의 균일도에 많은 영향을 미치게 된다. [2] 결과적으로 효과적인 세정을 위해서는 노즐 출구 속도의 균일도를 높여서 웨이퍼 전체에 세정액이 고루 도포될 수 있게 해야 한다. 이에 본 연구에서는 수치해석을 통해 그루브(groove)가 적용된 폴리싱 패드 위에 슬러리가 가장 균일하게 도포될 수 있는 노즐의 위치에 대해 연구하였고, 세정 노즐 출구 속도의 균일도에 영향을 미칠 수 있는 인자를 도출하고, 출구 속도의 균일도를 높일 수 있는 설계에 대하여 연구하였다. | |
본 연구에서 폴리싱 패드는 동일한 슬러리 공급조건 하에서, 1개의 노즐보다 2개의 노즐로 슬러리를 공급하는 것이 슬러리 분포에 있어 보다 유리하다는 결과는 무엇을 의미하는가? | 그 결과, 폴리싱 패드는 case1-1~9의 결과 비교에서 확인할 수 있듯이 동일한 슬러리 공급조건 하에서, 1개의 노즐보다 2개의 노즐로 슬러리를 공급하는 것이 슬러리 분포에 있어서 보다 유리한 것을 알 수 있었다. 이는 더 나아가 가능한 범위 내에서 개방한 노즐의 개수를 최대한 증가시키는 것이 슬러리 분포의 균일도에 있어서 보다 효과적인 것임을 의미하며, 차기 연구에서는 노즐의 개수와 같은 인자 뿐만 아니라 노즐의 개수가 증가함에 따라, 각 노즐의 슬러리 공급량도 변화시킨다면, 본 연구에서 도출한 개선안보다 높은 균일도에 접근 할 수 있을 것으로 판단된다. |
Jihwan Jang, Doyhung Lee, "Optimization of Groove Sizing in CMP using CFD", 대한 기계학회 추계학술대회 논문집, pp. 1522-1527, 2004
Won-Kook Cho, "Analysis on Propellant Uniformity of KSR-III Manifold", 항공우주기술, pp. 113-122, 2002
Irving H. Shames, "Mechanics of Fluids", Mcgraw Hill, Fourth pp. 149-150, 2002.
Star-CCM UserGuide ver. 6.02, CD-adapco, 2011
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