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NTIS 바로가기한국해양정보통신학회논문지 = The journal of the Korea Institute of Maritime Information & Communication Sciences, v.15 no.3, 2011년, pp.632 - 638
류지열 (부경대학교 정보통신공학과) , 노석호 (안동대학교 전자공학과)
This paper presents on-chip Design-for-Testability (DFT) circuit for radio frequency System-on-Chip (SoC) applications. The proposed circuit measures functional specifications of RF integrated circuits such as input impedance, gain, noise figure, input voltage standing wave ratio (VSWRin) and output...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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고주파 집적회로 소자를 검사하는데 드는 비용이 많이 드는 이유는? | 그 중에서도 고주파 집적회로 소자를 검사하는데 드는 비용은 소자 전체 생산비용의 약 절반을 차지하는 실정이다[1-6]. 그 이유는 대부분의 고주파 회로는 검사할 때 반드시 캘리브레이션 과정을 밟아야 하고 많은 검사를 동시에 하기 힘들며, 검사해야 할 항목이아날로그 소자보다 더 많을 뿐만 아니라 고가의 측정 장비를 이용해야 하기 때문이다. | |
전통적인 고주파 시스템 및 소자 검사 방법은 무엇을 측정하는가? | 전통적인 고주파 시스템 및 소자 검사 방법은 S 파라미터, 이득, 잡음지수 및 third-order input intercept point (IIP3)등을 측정한다. 이러한 방법은 시간이 많이 걸리고 다양한 종류의 고가 검사 장비의 사용을 필요로 한다. | |
전통적인 고주파 시스템 및 소자 검사 방법의 단점은? | 전통적인 고주파 시스템 및 소자 검사 방법은 S 파라미터, 이득, 잡음지수 및 third-order input intercept point (IIP3)등을 측정한다. 이러한 방법은 시간이 많이 걸리고 다양한 종류의 고가 검사 장비의 사용을 필요로 한다. 그러나 본 연구에서 제안하는 고주파 DFT 회로를 이용한 방법은 고가의 외부 측정 장비를 사용하지 않고도 검사 대상이 되는 고주파 소자 (RF DUT, RF Device Under Test) 및 외부의 고주파 검사 회로만을 이용하여 고주파 소자의 중요사양을 측정할 수 있다. |
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