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화학기상 증착법을 이용하여 제조된 텅스텐 산화막의 전기변색 소자 응용 연구
Preparation of $WO_3$ Films by CVD and their Application in Electrochromic Devices 원문보기

Korean chemical engineering research = 화학공학, v.49 no.4, 2011년, pp.405 - 410  

정훈 (전남대학교 응용화학공학부 촉매 연구소) ,  선우창신 (전남대학교 생명과학기술학부) ,  김도형 (전남대학교 응용화학공학부 촉매 연구소)

초록
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본 연구에서는 화학 증착법을 이용하여 텅스텐 산화물을 제조한 후 기판 온도에 따른 성막 특성을 분석하고, 성막 된 텅스텐 산화물을 전기 변색 소자 제조에 응용하여 소자 특성을 살펴보았다. 증착 온도 $300^{\circ}C$ 이상에서 최대 성막속도($8{\mu}m/min$)를 얻을 수 있었으며, $275^{\circ}C$ 이하에서는 표면 반응 율속 특성을 보였고 이때 겉보기 활성화 에너지 값은 45.9 kJ/mol이였다. 성막 된 텅스텐 산화물은 $275^{\circ}C$ 이하에서는 비정질막이, 그 이상 온도에서는 결정질 막이 형성되었다. 전기 변색 소자 적용시 유리한 비정질막이 성막되는 조건에서 증착 온도 및 두께 변화에 따른 전기 변색 특성을 평가하였다. 증착 온도가 동일한 경우 두께가 두꺼울수록 그리고 두께가 일정한 경우는 증착 온도가 낮을수록 변색 효율 측면에서 유리한 결과를 얻었다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

A study on chemical vapor deposition(CVD) of $WO_3$ and the electrochromic properties of the CVD $WO_3$ films have been carried out. The crystalinity, purity, and growth rate of the films depending on substrate temperatures are investigated. The highest growth rate is $8{\...

주제어

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제안 방법

  • 반응 가스로 W(CO)6과 산소를 사용하였다. 275 oC를 기준으로 표면 반응율속과 물질 전달율속 영역으로 나누어졌으며, 증착막의 결정성도 275 oC를 기준으로 비정질/결정질 형태로 나누어졌다. 비정질 CVD WO3 박막을 이용하여 두께와 증착 온도에 따른 EC 소자 특성을 평가하였는데, 두께의 경우 두꺼워질수록 응답시간과 CE 모두 증가하는 경향을 보였다.
  • 可。3의 변색 특성을 살펴보았다. 평가된 WO3 두께는 300, 1,000, 1, 500, 2, 400 nm이 였으며, cyclic voltammetry로 즉정한 voltammogram과 chronoamperometric를 이용하여 분석하였다.
  • 1 은 전기변색 특성평가에 사용된 장치의 구조를 보여준다. Potential cyclinge -0.7 V부터 1 V의 범위 내에서 1 mV/s 속도로 5~10 cycle 수행하였으며, 위와 같은 범위 내에서 지속 시간 30초를 두고 pulse potential을 적용, 전기변색응답 시간을 측정하였다. 그리고 실험이 진행되는 동안 He-Ne laser(633 nm, 10 mW)를 사용하여 동시에 광 투과도를 측정하였다.
  • 7 V부터 1 V의 범위 내에서 1 mV/s 속도로 5~10 cycle 수행하였으며, 위와 같은 범위 내에서 지속 시간 30초를 두고 pulse potential을 적용, 전기변색응답 시간을 측정하였다. 그리고 실험이 진행되는 동안 He-Ne laser(633 nm, 10 mW)를 사용하여 동시에 광 투과도를 측정하였다.
  • 기본적인 증착 특성으로 CVD 증착 온도(225~350 oC)에 따른 WO3 의 증착 속도를 살펴보았다. 증착 속도는 Fig.
  • 4), 변색 효율 측면에서도 두꺼운 막이 유리하였다. 마지막으로 박막성장 온도에 따른 EC 특성 변화를 살펴보기 위하여 표면 반응율속 영역인 275 oC 이하, 즉 235, 250, 265 oC에서 2, 500(±100)nm 두께의 巧03을 증착하여 전기변색 특성을 살펴보았다. 상기 온도에서 증착된 모든 WO3 박막은 비정질 상임을 확인하였으며, 시편의 증착 온도가 높을수록 전류 밀도가 감소하는 것을 알 수 있다 (Fig.
  • 사용하였다. 시편 온도의 균일성을 유지하기 위하여 알루미늄으로 제작한 서셉터(susceptor)를 채택하였으며 증착 온도의 측정 및 제어를 위하여서셉터에 내재된 J형의 열전쌍과 PID 제어기를 사용하였다. 사용된 전구체는 W(CO)6(Tungsten hexacarbonyl, 97%)로 알드리치에서 구입하였고 정제 과정 없이 사용하였다.
  • 전기변색 특성을 나타내는 물질들은 다양한 물리 또는 화학적 방법으로 제조될 수 있는데 [10-16], 본 연구에서는 화학적 증착 방법 (chemical vapor deposition, CVD)으로 텅스텐산화 벌F막 (WO3)을제조하여 증착 특성을 살펴보고, CVD WO3 박막의 전기변색 특성을 살펴보았다.
  • 전구체 유입 관내에서 전구체분해를 최소화하기 위하여 버블러와 반응기 거리를 짧게 하였으며, 또 전구체의 배관 내 응죽(condensation)을 방지하기 위해 유입 배관 온도를 버블러온도보다 약 15높게 유지하였다. 증착 공정시 반응기 압력은 1.0 torr, 버블러 온도는 60 oC로 고정하였고, 225~350 oC 범위에서 1~20분간 실험을 진행하였다. 그리고 운송기체인 질소와 반응물인 산소유량은 각각 10 sccm과 20 sccm을 사용하였다.
  • 의 증착 속도를 살펴보았다. 증착 속도는 Fig. 2와 같이 증착 시편의 단면 SEM을 이용하여 두께를 측정한 후 공정시간으로 나누어 계산하였다. Fig.
  • 증착특성을 평가하기 위한 기판으로는 P 형 실리콘 웨이퍼를 사용하였으며, 변색 특성 평가를 위한 기판으로는 ITO(indium tin oxide, 7Q/O)를 사용하였다. 증착막의 두께 측정과표면 형상 분석을 위하여 Scanning electron microscopy(SEM)과 Atomic force microscopy(AFM)을 사용하였고, WO3의 순도(조성 )와 결정성 분석은 각각 X-ray photoelectron spectroscopy(XPS)와 X-ray diffraction(XRD)을 사용하여 진행하였다.
  • 특성을 살펴보았다. 평가된 WO3 두께는 300, 1,000, 1, 500, 2, 400 nm이 였으며, cyclic voltammetry로 즉정한 voltammogram과 chronoamperometric를 이용하여 분석하였다. 그 결과 박막 두께가 두꺼워질수록 박막 안으로 흐르는 전류의 양이 증가하는 경향을 보였다.

대상 데이터

  • CVD 공정을 이용하여 WO3 박막을 제조하였으며, 이때 전구체와 반응 가스로 W(CO)6과 산소를 사용하였다. 275 oC를 기준으로 표면 반응율속과 물질 전달율속 영역으로 나누어졌으며, 증착막의 결정성도 275 oC를 기준으로 비정질/결정질 형태로 나누어졌다.
  • ITO 위에 성막된 CVD WO3 전기변색 특성 평가를 위한 기준 및 상대 전극은 Ag와 Pt를 사용하였으며 전해질은 0.5 M 농도의 LiClO4가 프로필렌 카보네이트에 녹아 있는 것을 사용하였다. Fig.
  • 0 torr, 버블러 온도는 60 oC로 고정하였고, 225~350 oC 범위에서 1~20분간 실험을 진행하였다. 그리고 운송기체인 질소와 반응물인 산소유량은 각각 10 sccm과 20 sccm을 사용하였다. 증착특성을 평가하기 위한 기판으로는 P 형 실리콘 웨이퍼를 사용하였으며, 변색 특성 평가를 위한 기판으로는 ITO(indium tin oxide, 7Q/O)를 사용하였다.
  • 시편 온도의 균일성을 유지하기 위하여 알루미늄으로 제작한 서셉터(susceptor)를 채택하였으며 증착 온도의 측정 및 제어를 위하여서셉터에 내재된 J형의 열전쌍과 PID 제어기를 사용하였다. 사용된 전구체는 W(CO)6(Tungsten hexacarbonyl, 97%)로 알드리치에서 구입하였고 정제 과정 없이 사용하였다. W(CO)6 전구체는 상온에서 하얀색을 띄는 고체로 증기압은 67 oC 에서 1.
  • 그리고 운송기체인 질소와 반응물인 산소유량은 각각 10 sccm과 20 sccm을 사용하였다. 증착특성을 평가하기 위한 기판으로는 P 형 실리콘 웨이퍼를 사용하였으며, 변색 특성 평가를 위한 기판으로는 ITO(indium tin oxide, 7Q/O)를 사용하였다. 증착막의 두께 측정과표면 형상 분석을 위하여 Scanning electron microscopy(SEM)과 Atomic force microscopy(AFM)을 사용하였고, WO3의 순도(조성 )와 결정성 분석은 각각 X-ray photoelectron spectroscopy(XPS)와 X-ray diffraction(XRD)을 사용하여 진행하였다.

이론/모형

  • WO3 박代上 증착에 사용된 장비는 자체 제작한 저압 냉각 벽 (cold wall) 반응기로 초기 진공은 5*10 -3 torr 이하이며, 히터는 저항 가열식을 사용하였다. 시편 온도의 균일성을 유지하기 위하여 알루미늄으로 제작한 서셉터(susceptor)를 채택하였으며 증착 온도의 측정 및 제어를 위하여서셉터에 내재된 J형의 열전쌍과 PID 제어기를 사용하였다.
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참고문헌 (20)

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  2. Azens, A., Granqvist, C. G. and Kullman, L., "Color-modifying Treatment of Thin Films," PCT Int. Appl. WO 2001027219 A1 20010419(2001). 

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