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증착 온도 및 산소 유량에 따른 IZO 박막의 구조적 및 전기적 특성
Structural and Electrical Characteristics of IZO Thin Films deposited at Different Substrate Temperature and Oxygen Flow Rate 원문보기

반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.11 no.4, 2012년, pp.25 - 30  

한성호 (한국기술교육대학교 신소재공학과) ,  이규만 (한국기술교육대학교 신소재공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this study, we have investigated the effect of the substrate temperature and oxygen flow rate on the characteristics of IZO thin films for the organic light emitting diodes (OLED) devices. For this purpose, IZO thin films were deposited by RF magnetron sputtering at room temperature and $300...

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문제 정의

  • 본 연구에서는 R.F. magnetron sputtering을 이용하여 IZO 박막을 증착하였으며, 증착 온도(상온 및 300℃) 및 주입되는 산소의 유량 변화가 박막의 구조적, 전기적, 및 광학적 특성에 어떠한 영향 미치는 것인가를 자세히 규명하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
ITO 박막의 특징은 무엇인가? 이러한 투명 전도성 산화물 박막 중 가장 널리 사용되고 있는 물질인 ITO (Indium Tin Oxide) 박막은 ntype의 전도특성을 갖는 산화물 반도체로서 넓은 밴드 갭과 함께 가시광 영역에서의 높은 투과율과 전기전도성을 나타낸다[4,5]. 그러나 ITO 박막이 높은 전기 전도특성과 광투과율을 얻기 위해서는 250℃ 이상의 고온 증착이 요구되며 300℃ 이상에서 증착 후 열처리를 해야만 한다.
고온 공정은 ITO 박막에 어떤 문제를 야기하는가? 그러나 ITO 박막이 높은 전기 전도특성과 광투과율을 얻기 위해서는 250℃ 이상의 고온 증착이 요구되며 300℃ 이상에서 증착 후 열처리를 해야만 한다. 이러한 고온 공정들은 ITO 박막의 결정화를 강화시켜 결정립에 의한 표면 거칠기를 증가시키고 그에 따라 소자의 안정성을 현저하게 저하시키는 요인이 된다. 또한, 원료 물질인 인듐의 독성, 스퍼터링 시 음이온 충격에 의한 막 손상에 의한 전기저항 증가, 유기발광소자의 투명전극으로 쓰일 경우에 유기물과의 계면 부적합성, 그리고 수소플라즈마에 대한 불안정성 등이 문제점으로 지적되고 있다[4,5].
ITO 박막의 단점은 무엇인가? 이러한 고온 공정들은 ITO 박막의 결정화를 강화시켜 결정립에 의한 표면 거칠기를 증가시키고 그에 따라 소자의 안정성을 현저하게 저하시키는 요인이 된다. 또한, 원료 물질인 인듐의 독성, 스퍼터링 시 음이온 충격에 의한 막 손상에 의한 전기저항 증가, 유기발광소자의 투명전극으로 쓰일 경우에 유기물과의 계면 부적합성, 그리고 수소플라즈마에 대한 불안정성 등이 문제점으로 지적되고 있다[4,5]. 
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참고문헌 (14)

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  3. Y. Hoshi, H. Kato, and K. Funatsu, "Structure and electrical propeties of ITO thin films deposited at high rate by facing target sputtering", Thin Solid Films, 445, pp. 245-250, 2003. 

  4. N. Taga, M. Maekawa, Y. Shigesato, I. Yasui, M. Kamei and T. E. Haynes, "Deposition of Heteroepitaxial $In_{2}O_{3}$ Thin Films by Molecular Beam Epitaxy", Jpn. J. Appl.Phys., 37, pp.6524-6529, 1998. 

  5. C. Nunes de Carvalho, A. M. Botelho do Rego, A. Amaral, P. Brogueira and G. Lavareda, "Effect of substrate temperature on the surface structure, composition and morphology of indium-tin oxide films", Surface and Coatings Technology, 124, pp. 70 - 75, 2000. 

  6. Y. S. Jung, J. Y. Seo, D. K. Lee and D. Y. Jeon, "Influence of DC magnetron sputtering parameters on the properties of amorphous indium zinc oxide thin film", Thin Solid Films, 445, pp. 63-71, 2003. 

  7. K. H. Noh, M. K. Choi, S. H. Park, and H. R, Joo, "Amorphous Transparent Conducting film $In_{2}O_{3}$ :Zn", Hankook Kwanghan Hoeji, 13, pp.455-459, 2002. 

  8. D. C. Paine, B. Yaglioglu, Z. Beiley, and S. Lee, "Amorphous IZO-based transparent thin film transistors", Thin Solid Films, 516, pp.5894-5898, 2008. 

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  10. R. Das, K. Adhikary, and S. Ray, "The role of oxygen and hydrogen partial pressures on structural and optical properties of ITO films deposited by reactive rf-magnetron sputtering", Appl. Surf. Sci., 253, pp. 6068-6073, 2007. 

  11. Y. Yan, S. J. Pennycook, J. Dai, R. P. H. Chang, A. Wang, and T. J. Marks, "Polytypoid structures in annealed $In_{2}O_{3}$ -ZnO films", Appl. Phys. Lett., 73, pp. 2585-2587, 1998. 

  12. Jung-Kyung Lee, Hwa-Min Kim, Seoung-Hwan Park, Jong-Jae Kim, Byung-Roh Rhee, and Sang-Ho Sohn, "Heat treatment effects on electrical and optical properties of ternary compound $In_{2}O_{3}$ -ZnO films", J. Appl. Phys., 92, pp. 5761-5765, 2002. 

  13. H. M. Kim and J. J. kim, "Heat treatment effects on the electrical properties of In2O3-ZnO films prepared by rf-magnetron sputtering method", J. of the Korean Vacuum Society, 14, pp. 238-244, 2006. 

  14. Y. S. Song, J. K. Park, T. W. Kim, and C. W. Chung, "Influence of process parameters on the haracteristics of indium zinc oxide thin films deposited by DC magnetron sputtering", Thin Solid Films, 467, pp. 117-120, 2004. 

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