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형광 X-선 스펙트럼의 잡음 특징 분석
Noise Characteristic Analysis of X-Ray Fluorescence Spectrum 원문보기

한국산학기술학회논문지 = Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society, v.13 no.5, 2012년, pp.2298 - 2304  

이재환 (전북대학교 전자정보공학부) ,  천선일 (전북대학교 전자정보공학부) ,  양상훈 (전북대학교 전자정보공학부) ,  박동선 (전북대학교 IT융합연구센터)

초록
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형광 X-선 스펙트럼을 분석 방법은 RoHS 성분 및 중금속 함량 분석 등 여러 분야에 응용이 가능하며 비교적 빠른 시간 안에 함량 분석 결과를 얻을 수 있다. 형광 X-선 스펙트럼에는 잡음 및 여러 요인이 포함되어 있어 분석 정확도를 떨어뜨린다. 본 논문에서는 여러 요인 중 잡음의 특징을 분석하여 형광 X-선 스펙트럼 분석의 정확도를 높이고자 한다. 형광 X-선 스펙트럼은 산탄잡음(푸아송 잡음)의 특징을 가지고 있으며, 따라서 작은 신호에서는 잡음의 크기가 상대적으로 크고, 큰 신호에서는 잡음의 크기가 상대적으로 작은 특징을 가지고 있다. 기존에 잡음을 분석하고 제거하는 방법 및 알고리즘은 이러한 특징을 반영하지 않은 일반적인 목적으로 사용되는 방법으로 일반적인 알고리즘을 사용하여 잡음을 제거하게 되면 왜곡된 결과를 얻게 된다. 정확한 잡음 분석을 기반으로 효율적인 잡음 제거 알고리즘을 설계할 수 있고, 또한 높은 정확도의 원소 함량 분석 결과를 기대할 수 있다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

X-ray fluorescence spectrum analysis method can be applied in many areas, including concentration analysis of RoHS elements and heavy metals etc. and we can get analysis results in a relatively short time. Because X-ray fluorescence spectrum has noises and several artifacts that lowers the accuracy ...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문에서는 분석의 정확도를 떨어뜨리는 여러 요인 중 잡음의 특징을 분석하여 형광 X-선 스펙트럼의 분석 정확도를 높이는데 기여하고자 한다.
  • 형광 X-선 스펙트럼 분석은 짧은 시간에 정확한 분석 결과를 얻는 것을 목표로 한다. 형광 X-선 스펙트럼에는 원소의 형광 X-선 피크 신호 외에 잡음, 배경신호, Escape 피크, Sum 피크, 중첩 피크 등이 존재하고 있어 분석의 정확도를 떨어뜨리는 요인으로 작용한다[1].

가설 설정

  • 웨이블릿을 이용한 잡음제거는 기본적으로 신호와 잡음의 관계가 두 가지 가정 아래 진행된다. 1. Noise의 세기는 신호의 세기보다 작다. 2.
  • Noise의 세기는 신호의 세기보다 작다. 2. Noise는 빠르게 변화하는 값으로 고주파수 성분을 가지고 있다. 즉 신호의 대부분의 성분은 저주파수 성분으로 구성되어 있다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
웨이블릿을 이용한 잡음제거는 기본적으로 신호와 잡음의 관계가 두 가지 가정 아래 진행되는데 그것은 무엇인가? 웨이블릿을 이용한 잡음제거는 기본적으로 신호와 잡음의 관계가 두 가지 가정 아래 진행된다. 1. Noise의 세기는 신호의 세기보다 작다. 2. Noise는 빠르게 변화하는 값으로 고주파수 성분을 가지고 있다. 즉 신호의 대부분의 성분은 저주파수 성분으로 구성되어 있다.
형광 X-선 스펙트럼을 분석 방법의 특징은? 형광 X-선 스펙트럼을 분석 방법은 RoHS 성분 및 중금속 함량 분석 등 여러 분야에 응용이 가능하며 비교적 빠른 시간 안에 함량 분석 결과를 얻을 수 있다. 형광 X-선 스펙트럼에는 잡음 및 여러 요인이 포함되어 있어 분석 정확도를 떨어뜨린다.
납이 몸에 끼치는 영향은? 그 결과 23가지 장난감과 문구용품에서 중금속 납(Pb), 안티몬(Sb), 비소(As), 크롬(Cr), 수은(Hg) 등이 검출되었다. 특히 납은 아이들의 중추신경에 해를 입혀 지적능력을 떨어뜨릴 수 있는 치명적인 독소이다.
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참고문헌 (24)

  1. Van Grieken, "Handbook of X-Ray Spectrometry 2nd Ed", Marcel Dekker Inc, 2002. 

  2. Beckhoff, B., Kanngiesser, B., Langhoff, N., Wedell, R., Wolff, H., "Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis", Springer, 2006. 

  3. Bertin, E. P., "Principles and Practice of X-ray Spectrometric Analysis", Kluwer Academic / Plenum Publishers 

  4. Buhrke, V. E., Jenkins, R., Smith, D. K., "A Practical Guide for the Preparation of Specimens for XRF and XRD Analysis", Wiley, 1998. 

  5. Jenkins, R., "X-ray Fluorescence Spectrometry", Wiley 

  6. Jenkins, R., De Vries, J. L., "Practical X-ray Spectrometry, Springer-Verlag", 1973. 

  7. Jenkins, R., R.W. Gould, R. W., Gedcke, D., "Quantitative X-ray Spectrometry", Marcel Dekker 

  8. Melquiades, FL., Appoloni, CR., "Application of XRF and field portable XRF for environmental analysis", Journal of radioanalytical and nuclear chemistry, Vol. 262, Issue 2, pp. 533-541, 2004. 

  9. Michael Mantler, Manfred Schreiner, "X-Ray Fluorescence Spectrometry in Art and Archaeology", X-RAY SPECTROMETRY, Vol. 29, Issue 1, pp. 1-17, 2000 

  10. Soo-Jung Choi, Chong-Hyeak Kim, Sueg-Geun Lee, In-Sung Kang, "Analysis of the hazardous RoHS materials in polyethylene and polypropylene samples by bench-top and portable XRF methods", Analytical Science and Techology, Vol. 23, No. 1, pp. 74-82, 2010. 

  11. Richard L. McCreery, "Raman Spectroscopy for Chemical Analysis", A JOHN WILEY & SONS, INC., 2000. 

  12. C. S. Burrus, R. A. Gopinath, H. Guo, "Introduction to Wavelets and Wavelet Transforms A Primer", Prentice-Hall, 1998. 

  13. A. Chambolle, R. A. DeVore, N. Lee, B. J. Lucier, "Nonlinear Wavelet Image Processing:variational Problems, Compression, and Noise Removal Through Wavelet Shrinkage", IEEE Trans. on Image Processing, Vol. 7, Issue 3, pp. 319-335, 1998. 

  14. D. L. Donoho, I.M. Johnstone, "Ideal Spatial Adaptation via Wavelet Shrinkage", Jour. of the Amer. Stat. Asso., Vol. 90, Issue 432, pp. 1200-1224, 1995. 

  15. D. L. Donoho, I. M. Johnstone, "Ideal Spatial Adaptation Via Wavelet Shrinkage", Biometrika, Vol. 81, Issue 3, pp. 425-455, 1994. 

  16. R. N. Strickland, H. I. Hahn, "Wavelet Methods for Extracting Objects from Complex Backgrounds", IEEE ICASSP, pp.2997-2300, 1996. 

  17. Z. Li, Z. K. Shen, "An Estimation Method Based on Wavelet Transformation for Infrared Image Noise", IEEE ICASSP, Vol. 1, pp.2997-2300, 1996. 

  18. Gang Li, "Noise Removal of Raman Spectra using Interval Thresholding Method", IEEE IITA, pp.535-539, 2008. 

  19. "Moving average", http://en.wikipedia.org/wiki/Moving_average, Access 2012.04.28. 

  20. Savitzky, A., Golay, M.J.E, "Smoothing and Differentiation of Data by Simplified Least Squares Procedures", Analytical Chemistry, Vol. 36, Issue 8, pp. 1627-1639, 1964. 

  21. Steinier, Jean, Termonia, Yves, Deltour, Jules, "Comments on smoothing and differentiation of data by simplified least square procedure", Analytical Chemistry, Vol. 44, Issue 11, pp.1906-1909, 1972. 

  22. Press, WH, Teukolsky, SA, Vetterling, WT, Flannery, BP, "Numerical Recipes: The Art of Scientific Computing", pp. 753-754, Cambridge University Press, 2007. 

  23. "Gaussian filter", http://en.wikipedia.org/wiki/Gaussian_filter, Access 2012.04.28. 

  24. Gullberg, Jan, "Mathematics from the birth of numbers", New York: W. W. Norton, pp.963-965, 1997. 

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