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SVM 학습 알고리즘을 이용한 자동차 썬루프의 부품 유무 비전검사 시스템
A Learning-based Visual Inspection System for Part Verification in a Panorama Sunroof Assembly Line using the SVM Algorithm 원문보기

제어·로봇·시스템학회 논문지 = Journal of institute of control, robotics and systems, v.19 no.12, 2013년, pp.1099 - 1104  

김기석 (한국기술교육대학교 컴퓨터공학부) ,  이삭 (한국기술교육대학교 컴퓨터공학부) ,  조재수 (한국기술교육대학교 컴퓨터공학부)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper presents a learning-based visual inspection method that addresses the need for an improved adaptability of a visual inspection system for parts verification in panorama sunroof assembly lines. It is essential to ensure that the many parts required (bolts and nuts, etc.) are properly insta...

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AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문은 그림 과 같은 자동차 썬루프 프레임 1 (sunroof) 상의 부품 유무 볼트 너트 등 를 판별하기 위한 비전검사 (- ) 방법에 관한 연구이다 실제 공장 생산 라인 현장에서 자동 . 차 썬루프 프레임 앞 뒷면 을 카메라로 촬영 후 정해진 위 (- ) , 치에서의 부품 유 무를 정확하게 판별하는 것은 쉽지 않은 / 작업이다 썬루프 생산라인의 조명은 일반적인 머신비전 검 .
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (8)

  1. AIA (Automated Imaging Association), n.d., veiwed January 2010, , 2010. 

  2. S. Lee, G. Kim, and J. S. Cho, "The inspection for volts on vehicle frames using polar coordinated histogram," The 25 th Workshop on Image Procesesing and Image Understanding (in Korean), p. 106, Jeju, 2013. 

  3. C. Cortes and V. N. Vapnik, Support-Vector Networks, Machine Learning, 20, 1995. 

  4. V. Vapnik, The Nature of Statistical Learning Theory, New York:Springer-Verlag, 1995. 

  5. C.-X. Dong, S.-Q. Yang, X. Rao, and J.-L. Tang, "An algorithm of estimating the generalization performance of RBF-SVM," Proc. of the Fifth International Conference on Computational Intelligence and Multimedia Applications (ICCIMA'03), pp. 61-66, Sep. 2003. 

  6. X. Liang, "Effective method of pruning support vector machine classifiers," Neural Networks, IEEE Transactions on, vol. 21, no. 1, pp. 26-38, Dec. 2009. 

  7. C. H. Park, H. M. Bae, J. P. Yun, and S. W. Yun, "Automated surface inspection systm for black resin coated steel," International Conference on Control Automation and Systems (ICCAS), Oct. 2012. 

  8. S. J. Lee and S. W. Kim, "Classifying scrach defects on billets using image processing and SVM," Journal of Institute of Control, Robotics and Systems (ICROS) (in Korean), vol. 19, no. 3, pp. 256-261, Mar. 2013. 

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