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NTIS 바로가기Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea = 전자공학회논문지, v.50 no.7, 2013년, pp.149 - 156
오광석 (충북대학교 전자정보대학) , 이상진 (충북대학교 전자정보대학) , 조경록 (충북대학교 전자정보대학)
This paper presents a hardware edge detector of image signal at pixel level of CMOS image sensor (CIS). The circuit detects edges of an image based on a bump circuit combining with the pixels. The APS converts light into electrical signals and the bump circuit compares the brightness between the tar...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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본 논문에서 비교기로 사용된 bump회로는 어떻게 윤곽선 여부를 판별하는가? | 제안하는 회로는 $64{\times}64$의 이미지를 대상으로하며, 각 열(column)마다 비교기를 공유한다. 비교기는 외부에서 인가되는 기준전압을 통해 최종적으로 대상픽셀의 윤곽선 여부를 판별한다. 또한 기존의 4개 혹은 그 이상의 픽셀 데이터를 비교하는 윤곽선 검출 알고리즘을 상대적으로 간소화하여 대상픽셀을 포함하여 3개의 픽셀만으로 윤곽선 검출을 가능토록 제안하였다. | |
제안된 회로가 상대적으로 저전력 구동을 가능케 하였으며, 충분한 fill factor를 확보할 수 있었던 이유는? | 기존에 연구되었던 하드웨어 기반의 윤곽선 검출과 제안한 회로와의 비교를 표 1에 나타내었다. 제안한 회로는 윤곽선 검출 알고리즘의 간소화를 통해 3T-APS와 비교적 적은 수의 트랜지스터로 각 픽셀을 구성하였다. 따라서 상대적으로 저전력 구동을 가능케 하였으며, 충분한 fill factor를 확보하였다. | |
하나의 픽셀은 어떻게 구성되는가? | 본 논문에서는 bump 회로를 이용한 하드웨어 기반의 윤곽선 검출 회로를 제안한다. 하나의 픽셀은 빛을 전기적인 신호로 변환하는 active pixel sensor (APS)와 주변 픽셀의 밝기 차이를 비교하는 bump회로로 구성된다. 제안하는 회로는 $64{\times}64$의 이미지를 대상으로하며, 각 열(column)마다 비교기를 공유한다. |
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